FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀,，菲希爾涂層測厚儀，現(xiàn)貨供應(yīng),，產(chǎn)品質(zhì)量優(yōu)價格好,。
FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀
FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀
FISCHERSCOPE XDV-µ的特點
同時測量從Al（13）到U（92）的多達24個元素，XDV-μLD:S（16）-U（92）
菲希爾x射線測厚儀*的多毛細管光學系統(tǒng),，可將X射線束聚焦到10μm（FWHM）,，用于微結(jié)構(gòu)測量
菲希爾x射線測厚儀可編程XY工作臺和模式識別，用于多個樣品的自動測量
擴展樣品臺方便樣品的定位
向?qū)叫蔬^程
穩(wěn)健設(shè)計適合長期使用
光學顯微鏡（放大270倍）,，顯示圖像和激光定位點,，可顯示精確的測量點
無需校準即可進行測量的基本參數(shù)分析
符合IPC-4552A、4553A,、4554和4556,，ASTM B568，ISO 3497標準
Fischer的認證標準片可追溯到基本單位
菲希爾XDV-µ應(yīng)用
菲希爾XDV-µ微米和納米范圍內(nèi)的Au/Pd/Ni/CuFe和Sn/Ni鍍層
組裝和未組裝電路板
納米范圍內(nèi)的基底金屬化層（bump metallization,，UBM）的測試
測量輕元素,，例如 測量金和鈀下的磷含量（在ENEPIG和ENIG中）
銅柱上的無鉛焊料蓋
測試C4和較小焊點的元素組成，以及半導體行業(yè)中的小接觸面
