菲希爾X射線熒光分析儀XDL230，fischerscope xdl230，菲希爾測(cè)厚儀,，還可以進(jìn)行材料分析,。
菲希爾X射線熒光分析儀XDL230
菲希爾X射線熒光分析儀XDL230
Fischerscope XDl230特點(diǎn)
X射線熒光分析儀能量色散X射線熒光光譜儀,，自動(dòng)進(jìn)行材料自動(dòng)分析和鍍層厚度的無損測(cè)量,，采用ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)；
X射線熒光分析儀XDLM的最小測(cè)量點(diǎn)： 0.1毫米; XDL的最小測(cè)量點(diǎn)：約 0.2毫米
菲希爾測(cè)厚儀鎢X射線管或鎢微焦點(diǎn)管（XDLM）作為X射線源
菲希爾測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)證可用于快速測(cè)量的比例接收器探測(cè)器
固定或可更改的準(zhǔn)直器
固定或可自動(dòng)切換基本濾片
可選擇手動(dòng)或可編程的XY載物臺(tái),；
開槽箱體設(shè)計(jì)用于測(cè)量大的印刷電路板
通過攝像頭可輕松固定測(cè)量位置
經(jīng)過認(rèn)證的全面保護(hù)設(shè)備；
Fischerscope XDl230應(yīng)用
電鍍鋅鍍層,，例如鐵上的鋅層作為防腐層；
批量生產(chǎn)零件的系列測(cè)試
特殊鋼成分的分析,，例如 檢測(cè)A4中的鉬含量
裝飾性鍍鉻層,，例如Cr/Ni/Cu/ABS
測(cè)量印刷電路板上的功能性鍍層，例如Au/Ni/Cu/ PCB或Sn/Cu/PCB
電子工業(yè)中連接器和觸點(diǎn)上的涂層,，如Au/Ni/Cu和Sn/Ni/Cu
