菲希爾測厚儀Fischerscope X-RAY XDV-µ，菲希爾測厚儀,，fischer xdv-µ,，可以測量多種參數。
菲希爾測厚儀Fischerscope X-RAY XDV-µ
菲希爾測厚儀Fischerscope X-RAY XDV-µ
Fischerscope X-RAY XDV-µ特點
同時測量從Al（13）到U（92）的多達24個元素,，XDV-μLD:S（16）-U（92）
Fischerscope X-RAY XDV-µ*的多毛細管光學系統(tǒng),，可將X射線束聚焦到10μm（FWHM）,，用于微結構測量
可編程XY工作臺和模式識別，用于多個樣品的自動測量
擴展樣品臺方便樣品的定位
菲希爾x射線測厚儀向導式校準過程
穩(wěn)健設計適合長期使用
光學顯微鏡（放大270倍）,，顯示圖像和激光定位點,，可顯示精確的測量點
無需校準即可進行測量的基本參數分析
符合IPC-4552A、4553A,、4554和4556,，ASTM B568，ISO 3497標準
Fischer的認證標準片可追溯到的基本單位
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測試儀儀器特點
•高級型號儀器,，具有常見的所有功能
•射線激發(fā)量的靈活性很大,，激發(fā)量可根據測量面積大小和光譜組成而改變
•通過硅漂移探測器，在 > 10萬cps（每秒計數率） 的超高信號量下也可以正常工作,，而不會出現能量分辨率的降低
•極低的檢測下限和出色的測量重復度
•帶有快速,、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
•大容量便于操作的測量艙
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測試儀典型應用領域
•測量極薄的鍍層，例如應用于電子和半導體行業(yè)中
•痕量分析,，例如根據 RoHS,、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
•進行高精度的黃金和貴金屬分析
•光伏產業(yè)
•測量 NiP 鍍層的厚度和成分
