菲希爾X-RAY XUV x射線測厚儀,，fischer涂層測厚儀，現(xiàn)貨供應(yīng)，可以測量金屬鍍層的產(chǎn)品厚度,，測量精度高
菲希爾X-RAY XUV x射線測厚儀
菲希爾X-RAY XUV x射線測厚儀
菲希爾X-RAY XUV射線熒光測試儀 商品介紹
儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測量箱,。其所裝備的大面積硅漂移探測 器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na,、Mg以及元素Zn,、Cu、Ni 的L輻射,。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號(hào)計(jì)數(shù)率,，使儀器可以達(dá)到極小的重復(fù)精度和極低的測量下限。XUV非常適合測量極薄的鍍層和痕量分析,。
菲希爾測厚儀
菲希爾測厚儀采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合,，能夠保證每 一次的測量都在佳的條件下完成。在測量的同時(shí),，可以直觀地查看測量點(diǎn)的影像,。菲希爾測厚儀儀器測量空間寬大，樣品放置便捷,，配合可編程的XYZ軸工作臺(tái),，既適合測量平面、大型板材類樣品,，也適合形狀復(fù)雜的樣品,。并且使得連續(xù)測量分析鍍層 厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個(gè)激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置,，進(jìn)一步方便了 樣品的快速定位,。
基于儀器的通用設(shè)計(jì)以及真空測量箱所帶來的擴(kuò)展的 測量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用 于研究和開發(fā),，也非常適合過程控制和實(shí)驗(yàn)室使用,。
射線熒光測試儀 商品特點(diǎn)
帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管，可選鎢管和鉬管,。高工作條件：
射線探測器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y器
準(zhǔn)直器：4個(gè),，可自動(dòng)切換，從直徑0.1mm到
基本濾片：6個(gè),，可自動(dòng)切換
可編程XYZ工作臺(tái)
攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置,。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn),，顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小,。
可在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作
射線熒光測試儀 商品應(yīng)用
測量輕元素
測量超薄鍍層和痕量分析
常規(guī)金屬分析鑒定
非破壞式寶石分析
太陽能光伏產(chǎn)業(yè)
