費(fèi)希爾電位差測(cè)試儀couloscope cms2 step,，菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀，可以測(cè)量多層鎳的電位差,。
費(fèi)希爾電位差測(cè)試儀couloscope cms2 step
費(fèi)希爾電位差測(cè)試儀couloscope cms2 step
在電鍍行業(yè)中,，對(duì)多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測(cè)定變成了一個(gè)越來(lái)越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層,。這兩個(gè)鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層,。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度，并且給了基材相對(duì)于單鍍層更好的防腐保護(hù),。
COULOSCOPE CMS STEP可以通過定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來(lái)方便地測(cè)出鍍層厚度和電位差,。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
COULOSCOPE CMS電解多鍍層庫(kù)侖法測(cè)厚儀可用于測(cè)量：
Au,、Cd,、Cr、Pd、Ni,、Sn,、Zn、Pb,、Pb60Sn40,、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy,、Zn and Zn-Alloy,、Ni、Fe,、非金屬材料等
COULOSCOPE CMS2 STEP：
除了與COULOSCOPE CMS2相對(duì)應(yīng)的涂層厚度測(cè)量外,，COULOSCOPE CMS2 STEP還提供符合ASTM B764 - 04和DIN EN 16866的STEP測(cè)試功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常適合測(cè)量單個(gè)涂層厚度和 多種鎳涂層的潛在差異以簡(jiǎn)單的標(biāo)準(zhǔn)符合方式。
COULOSCOPE CMS2儀器可測(cè)量金屬或非金屬基材上幾乎任何金屬涂層的厚度,。
FISCHER 公司為滿足不同客戶各種需要,，開發(fā)出了種類繁多的各式探頭，我們的主機(jī)可以通過接駁不同探頭來(lái)滿足不同情況下的測(cè)量需求,，這就需要客戶掌握主機(jī)和新探頭握手的方法,。
無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國(guó),英國(guó),德國(guó)和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器,、無(wú)損檢測(cè),、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器,、測(cè)量工具測(cè)量工具和其他類型的測(cè)試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測(cè)量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案,，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。
