菲希爾x熒光射線測厚儀XDV-SDD,， X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,，配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和 Z 軸升降臺(tái)，用于自動(dòng)測量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量分析,。
菲希爾x熒光射線測厚儀XDV-SDD
X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,，配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和 Z 軸升降臺(tái)，用于自動(dòng)測量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量分析,。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。其配備了高精度,、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái),，是全自動(dòng)測量樣品的理想設(shè)備。
XDV-SDD設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測量儀器,。它配備了高精度,、可編程運(yùn)行的X/Y軸工作臺(tái)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸升降臺(tái)。當(dāng)具有防護(hù)功能的測量門開啟時(shí),，樣品臺(tái)能自動(dòng)移出到放置樣品的位置。通過激光點(diǎn),，可以快速對準(zhǔn)需要測量的位置,。儀器內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng)，簡化了樣品放置的過程,，并可對測量點(diǎn)位置進(jìn)行精確微調(diào),。
所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示,，都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成,。
XDV-SDD最多可同時(shí)測定從鋁（13）到鈾（92）中的24 種元素
測量門向上開啟的臺(tái)式儀器，側(cè)面開槽設(shè)計(jì)
馬達(dá)驅(qū)動(dòng),、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺(tái)
馬達(dá)驅(qū)動(dòng),、可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。
菲希爾x熒光射線測厚儀XDV-SDD
