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x熒光射線fischerscope x-ray xdlm 232
菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀,。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質量控制,，質量檢驗和生產監(jiān)控的最合適的測量儀器,。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途,，有不同的版本,。
XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng),。
x熒光射線fischerscope x-ray xdlm 232
儀器簡介：
適用于Windows2000或選擇適用于Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能
頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應用
能通過“應用工具箱"(由一個帶所有應用參數(shù)的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化
畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示,，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星,，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離）
圖形化的用戶界面,，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中
對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)
測量模式用于：單、雙及三層鍍層系統(tǒng)
x-ray xdlm 232
x-ray xdlm 232
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