Fischer X熒光射線測厚儀浙江代理

產(chǎn)品用途

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

●珠寶,、貴金屬和牙科用合金分析

● 黃金制品和K金制品分析

● 鉑金制品和銀制品分析

● 銠制品分析

● 其他合金分析和鍍層厚度測量

● 多鍍層厚度測量

產(chǎn)品特點

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,，通常用于對珠寶,、錢幣和貴金屬等進行無損分析,。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92）,，可同時測定24種元素,。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力,。Si-PIN的*基本參數(shù)法,，可以在沒有校驗標(biāo)準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度,。

技術(shù)參數(shù)

通用規(guī)格

設(shè)計用途

采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF）,，

用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度

元素范圍從元素氯（17）到鈾（92），可同時測定24種元素。

重復(fù)性測量金元素時≤1‰,，測量時間60秒

形式設(shè)計臺式儀器,，測量門向上開啟

測量方向由下往上

X射線源

X射線管帶鈹窗口的鎢靶射線管

高壓三檔：30KV，40KV,，50KV

孔徑（準直器）φ1mm,；可選φ2mm

測量點尺寸當(dāng)測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm

X射線探測

X射線探測器采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器

能量分辨率

（Mn元素Kα半高寬）

≤180eV

測量距離0...10mm

通過DCM測量距離補償法,，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量,；對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準,。

樣品定位

樣品放置手動

視頻系統(tǒng)CCD彩色攝像頭,，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距,，對被測位置進行監(jiān)控

十字線（帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸）,，可調(diào)節(jié)亮度的LED照明

圖像發(fā)達倍數(shù)40x~160x

工作臺

形式設(shè)計固定工作臺

樣品放置可用區(qū)域310x320mm

樣品允許重量

13KG

樣品允許高度90mm

電氣參數(shù)

電源要求AC 220V 50Hz

功耗120W（不包括計算機）

保護等級IP40

尺寸規(guī)格

外部尺寸（寬x深x高）403x588x365mm

重量大約45KG

環(huán)境要求

使用時溫度10℃~40℃

存儲或運輸時溫度0℃~50℃

空氣相對濕度≤95%，無結(jié)露

計算單元

計算機

Windows®-PC

軟件標(biāo)準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能

可選：Fischer WinFTM®

執(zhí)行標(biāo)準

CE合格標(biāo)準

EN 61010

X射線標(biāo)準DIN ISO 3497 和ASTM B 568

形式批準 

符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定

Fischer X熒光射線測厚儀浙江代理