fischer x射線鍍層測厚儀

fischer x射線鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,。它適用于無損測量鍍層厚度,、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層,。

Fischerscope X-ray XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性,，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器

菲希爾x射線測厚儀比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量,。

Fischer x射線測厚儀由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法,，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。

高精度涂層測厚儀,、超聲波測厚儀,、涂層測厚儀、粗糙度,、表面輪廓儀,、圓度儀、圓柱度的儀器,淬火硬化層深度無損測量儀,組件清潔度測試系統(tǒng),、關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測量針探針,工業(yè)電子內(nèi)窺鏡,平面度測量儀,、光譜儀,、高度計,、通用長度測量機,齒輪嚙合儀,齒輪測量中心、超聲波探傷儀,、渦流探傷儀,、硬度計、滲碳層厚度計,、滲氮層深度無損檢測儀,、紅外熱成像儀、紅外溫度計,、投影儀,、視頻測量儀、材料萬能試驗機,、莫尼粘度計,、振動計等精密測量儀器。

X射線熒光分析法 (XRFA)

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,，可用來定量和定性分析樣品的元素組成,，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,，這一方法都能更好勝任,，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。