銅上鍍鎳厚度測量儀菲希爾庫倫法測厚儀

銅上鍍鎳厚度測量儀菲希爾庫倫法測厚儀

COULOSCOPE CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法 （DIN EN ISO 2177）,。 簡單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法,。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅,，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）,。

德國FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀-----根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡單易屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法,。 這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度 。CM乎所有基材上金屬鍍層的厚度,，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法（DIN EN ISO 2177）,。 簡單的操作和指導(dǎo)使 CMS2 成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。 設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近 100 個預(yù)留的應(yīng)用程式鋅,，黃銅上鍍鎳） , 以及各種電解速度（例如 1, 2, 5, and 10 μm/min）,。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。COULOSCOPE C通過電解退鍍方式測量鍍層厚度,。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度,。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進(jìn)測試，以檢測電位差（如多層鎳涂層的質(zhì)量控制）,。

菲希爾庫倫法測厚儀測量原理

這個系列儀器根據(jù)DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法,。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕——實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的,，假如電流和剝離面積保持不變,，鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。

測量槽——可比作微型電解缸——被用來剝離鍍層,。 測量面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定,。對不同的金屬采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程,。 電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制,， 用一個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電解液最佳利用,。 根據(jù)測量區(qū)域的大小,，各種直徑的墊圈 可供選擇。