EPK MINITEST2100北京代理測厚儀

EPK MINITEST2100北京代理測厚儀

EPK MINITEST2100校準(zhǔn)方式 ：
MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準(zhǔn)方式：
標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):適合平整光滑的表面和大致的測量,。例如，低于一點(diǎn)校準(zhǔn)精度要求的場合,。
一點(diǎn)校準(zhǔn):置零,，不用標(biāo)準(zhǔn)箔。用于允許誤差超過3%的場合,。
二點(diǎn)校準(zhǔn):置零,，用一片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于誤差范圍在1-3%(*大)之間的測量,。探頭誤差范圍應(yīng)另考慮,。
二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用二片標(biāo)準(zhǔn)箔,。用于以下場合:
 A). 在粗糙表面測讀;
 B). 厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的精確測量,。
透過厚度未知涂層的校準(zhǔn):用箔校準(zhǔn)(僅適用于F06、F1.6,、F3,、作F用的FN2測頭,以及F1.6/90、F2/90,、F10,、F20、F50探頭),。
在校準(zhǔn)時(shí),，沒有無涂層的用于比較的樣本，應(yīng)當(dāng)采用此法校準(zhǔn)。
注意:校準(zhǔn)箔是指所有的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),，包括2mm,，5mm，10mm厚的標(biāo)準(zhǔn)板,。

德國EPK MiniTest2100涂鍍層測厚儀可選探頭參數(shù)：
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用,。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的
形狀,、厚度,、大小,、幾何尺寸等因素,。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造,、精密機(jī)械,、模具加工、電子電力,、鑄造,、冶金、航空航天,、工程建設(shè),、大學(xué)和其他研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),*制造技術(shù)的驅(qū)動(dòng)精益求精。