EPK MINITEST2100北京代理測厚儀

EPK MINITEST2100北京代理測厚儀

EPK MINITEST2100校準方式 ：
MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準方式：
標準校準:適合平整光滑的表面和大致的測量,。例如,，低于一點校準精度要求的場合,。
一點校準:置零,，不用標準箔,。用于允許誤差超過3%的場合,。
二點校準:置零，用一片標準箔,。用于誤差范圍在1-3%(*大)之間的測量,。探頭誤差范圍應(yīng)另考慮。
二點校準:置零,，用二片標準箔,。用于以下場合:
 A). 在粗糙表面測讀;
 B). 厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的精確測量。
透過厚度未知涂層的校準:用箔校準(僅適用于F06,、F1.6,、F3、作F用的FN2測頭,以及F1.6/90,、F2/90,、F10、F20、F50探頭),。
在校準時,，沒有無涂層的用于比較的樣本，應(yīng)當采用此法校準,。
注意:校準箔是指所有的校準標準,，包括2mm，5mm,，10mm厚的標準板,。

德國EPK MiniTest2100涂鍍層測厚儀可選探頭參數(shù)：
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度,，基體材料以及基體的
形狀,、厚度、大小,、幾何尺寸等因素,。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

無錫駿展儀器有限責任公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造,、精密機械,、模具加工、電子電力,、鑄造,、冶金、航空航天,、工程建設(shè),、大學和其他研究實驗室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),*制造技術(shù)的驅(qū)動精益求精。