FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希爾測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希爾測厚儀

菲希爾x射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL特點

菲希爾x射線測厚儀堅固耐用的鍍層厚度測量設(shè)備,，甚至可在較大的距離測量（DCM功能,，范圍0-80 mm）工作

菲希爾x射線測厚儀固定光圈和固定濾光鏡

菲希爾xan用于1mm起大小的測量點

菲希爾xan底部C型開槽的大容量測量艙

菲希爾xan可編程的臺式設(shè)備，用于自動測量

fischer測厚儀標(biāo)準(zhǔn)X射線管,，比例計數(shù)器  

fischer測厚儀FISCHERSCOPE XDL應(yīng)用實例：

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni,，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度,。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如或突起,，測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時,，就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得zui大的信號強度,。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和 XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器， 準(zhǔn)直器和濾片組合,。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量,。

XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件,，對低輻射組分有較好的激勵作用,。此外，XDLM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造的激勵條件,。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL典型應(yīng)用領(lǐng)域

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件

防腐鍍層和裝飾性鍍層,，如鎳/銅上的鉻

電鍍工業(yè)中電鍍液的分析

黃金、珠寶和鐘表工業(yè)

在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領(lǐng)域,，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇,。自1983年以來，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測試的一個組成部分,。我們的儀器以其精確性,、準(zhǔn)確性和耐用性而聞名。同時,，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設(shè)計易于使用,，并在測量的各個方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質(zhì)量工作,，而不是測量儀器上,。

我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件，旨在規(guī)范測量過程,。這包括控制X射線,、實現(xiàn)測量的可追溯性,、生成個性化測量報告以及與內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)交互。

我們種類齊全的X射線設(shè)計用于高可靠性地測量不同的應(yīng)用,。電子,、電鍍、汽車,、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進(jìn)行質(zhì)量控制?，F(xiàn)在就來看看我們的X光儀器并找出原因吧！