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產(chǎn)地類別	進口	價格區(qū)間	面議
應用領域	環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池

菲希爾x射線測厚儀

XAN 215 X射線熒光鍍層測厚儀

菲希爾測厚儀產(chǎn)品用途

典型的應用領域有:

●菲希爾測厚儀珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

●菲希爾測厚儀黃金制品和K金制品分析

●菲希爾x-ray鉑金制品和銀制品分析

●菲希爾x-ray銠制品分析

●菲希爾代理其他合金分析和鍍層厚度測量

●菲希爾代理多鍍層厚度測量

菲希爾代理FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶,、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度,，從元素氯（17）到鈾（92）,，多可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,，減少了校準儀器所需的時間和精力,。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固,、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度,。

通用規(guī)格
設計用途	采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF），用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度
元素范圍	從元素氯（17）到鈾（92）,，多可同時測定24種元素,。
重復性	測量金元素時≤1‰，測量時間60秒
形式設計	臺式儀器,，測量門向上開啟
測量方向	由下往上
X射線源
X射線管	帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓	三檔：30KV,，40KV，50KV
孔徑（準直器）	φ1mm,；可選φ2mm
測量點尺寸	當測量距離MD=0mm時,，測量點直徑=孔徑直徑+200μm
X射線探測
X射線探測器	采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器
能量分辨率（Mn元素Kα半高寬）	≤180eV
測量距離	0 10mm
測量距離	通過受保護的DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量,；對于特殊的應用或者對測量精度要求較高的測量,，可能需要進行額外的校準。
樣品定位
樣品放置	手動
視頻系統(tǒng)	高分辨率CCD彩色攝像頭,，可沿著初級X射線光束方向,，手動焦距，對被測位置進行監(jiān)控
視頻系統(tǒng)	十字線（帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸）,，可調節(jié)亮度的LED照明
圖像發(fā)達倍數(shù)	40x~160x
工作臺
形式設計	固定工作臺
樣品放置可用區(qū)域	310x320mm
樣品大重量	13KG
樣品高高度	90mm
電氣參數(shù)
電源要求	AC 220V 50Hz
功耗	大120W（不包括計算機）
保護等級	IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸（寬x深x高）	403x588x365mm
重量	大約45KG
環(huán)境要求
使用時溫度	10℃~40℃
存儲或運輸時溫度	0℃~50℃
空氣相對濕度	≤95%,，無結露
計算單元
計算機	Windows®-PC
軟件	標準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
軟件	可選：Fischer WinFTM®
執(zhí)行標準
CE合格標準	EN 61010
X射線標準	DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批準
形式批準	符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定

歡迎來到無錫駿展儀器有限責任公司網(wǎng)站，我們主要經(jīng)營儀器儀表,、超聲波探傷儀,、磁粉探傷儀、超聲波測厚儀,、鍍層測厚儀,、表面粗糙度儀、里氏硬度計,。我公司主要供應儀表量具/測量儀表粗糙度計等產(chǎn)品,，我們的產(chǎn)品都是貨真價實,，性能可靠。

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