fischerscope XDLM231/XDLM232/XDLM237

FischerXDLM232

FischerXDLM232

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也稱為X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,，采用手動或自動方式,，測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層,。

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的應用領域有：

1,，測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件

2，測量微小區(qū)域上的薄鍍層

3,，測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

4,，全自動測量，如測量印刷線路板

ISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀,。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計,，是用于質量控制，質量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的最合適的測量儀器,。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列,。根據(jù)不同的預期用途，有不同的版本,。

XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺,，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDLM 232 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺,，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng),。

XDLM 237 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時,，工作臺會自動移到放置樣品的位置,。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDLM系列儀器帶有4個可切換準直器,，3種可切換的基本濾片,，采用比例接收器，測量距離為0-80mm,。

使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

儀器重量100kg-120kg

儀器使用時溫度范圍10℃-40℃,，空氣相對濕度為≤95%,，無結露

計算機要求：帶擴展卡的計算機系統(tǒng)

可按要求，提供額外的XDLM型產(chǎn)品更改和XDLM儀器技術咨詢

穩(wěn)固的手持式測量設備,，用于直接現(xiàn)場測試

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

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