菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240在精密測量領(lǐng)域,，菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XULM 和 XULMXYm X 射線光譜儀憑借性能,，成為細(xì)小零部件鍍層厚度無損測量與成分分析的理想之選,。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240該系列產(chǎn)品配備可電動(dòng)調(diào)整的多樣化準(zhǔn)直器及基礎(chǔ)濾片，確保每次測量都能在條件下開展,。先進(jìn)的比例接收器支持高計(jì)數(shù)率,，為高精度測量筑牢根基,。借助 Fischer 基本參數(shù)法，無論是復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),，還是固體,、液體樣品，無需標(biāo)準(zhǔn)片輔助,，即可實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)分析與測量,，其可測元素范圍覆蓋氯（17）至鈾（92）。此外,，XULM 型 X 射線光譜儀具備出色的長期穩(wěn)定性,，大幅降低儀器校準(zhǔn)頻率，有效節(jié)省時(shí)間與成本,。

菲希爾 X-RAY XULM 系列測厚儀在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮關(guān)鍵作用,。在電子制造中，可精準(zhǔn)測量微小零部件,、接插件和線材的鍍層厚度,，為產(chǎn)品質(zhì)量把控提供可靠數(shù)據(jù)；在印制線路板檢測環(huán)節(jié),，支持手動(dòng)測量,，保障線路板品質(zhì)。在珠寶手表行業(yè),，不僅能準(zhǔn)確測量鍍層厚度,，還可進(jìn)行成分分析，助力企業(yè)打造高品質(zhì)產(chǎn)品,，適用于質(zhì)量控制,、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控等多個(gè)場景。