FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,，專為超薄鍍層測量與痕量分析而生,，憑借高性能成為行業(yè)優(yōu)選設(shè)備,。

核心優(yōu)勢

自動化測量：配備高精度,、可編程運行的 X/Y 軸工作臺與馬達驅(qū)動的 Z 軸升降臺,，可實現(xiàn)全自動樣品測量。當(dāng)具有防護功能的測量門向上開啟時，樣品臺自動移出至樣品放置位,，極大提升操作效率,。

精準(zhǔn)定位：通過激光點快速對準(zhǔn)測量位置，內(nèi)置帶圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng),，不僅簡化樣品放置流程,，還能對測量點進行精確微調(diào)，確保測量精準(zhǔn)無誤,。

操作與控制

所有儀器操作,，包括測量數(shù)據(jù)計算、測量數(shù)據(jù)報表展示,，均可通過功能強大且界面友好的 WinFTM® 軟件在電腦端輕松完成,，操作便捷高效。

性能參數(shù)

元素測定：最多可同時測定從鋁（13）到鈾（92）的 24 種元素,，滿足多樣化分析需求,。

結(jié)構(gòu)設(shè)計：采用測量門向上開啟的臺式設(shè)計，側(cè)面開槽,，方便樣品操作,。

智能組件：配備馬達驅(qū)動、可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺,，以及馬達驅(qū)動,、可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。

核心部件：儀器搭載帶鈹窗口的微聚焦鎢管,，具備三擋可調(diào)節(jié)高壓,，同時配備 6 個可切換的基本濾片，為精準(zhǔn)測量提供有力保障,。