FISCHERSCOPE X-RAY XDL230采用了基本參數(shù)法,，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析,。其測量范圍為元素氯(17)到鈾(92),。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制,、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控,。
菲希爾X射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
測量超薄杜策,，例如：裝飾鉻
測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
全自動測量，如測量印刷線路板
分析電鍍?nèi)芤?/p>
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺式測量儀器系列,。根據(jù)不同的預(yù)期用途,，有不同的版本。
XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺,，固定位置的 Z 軸系統(tǒng),。
XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng),。
XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺,，馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng),。
XDL 240 型則配備了馬達(dá)驅(qū)動的 X/Y 工作臺，當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí),，工作臺會自動移到放置樣品的位置,。馬達(dá)驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。
