菲希爾X射線熒光分析基礎(chǔ)和重要儀器性能

過去,，X射線熒光分析(XRF)主要用于地質(zhì)學(xué)。如今,，它已成為工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的關(guān)鍵技術(shù),。這種方法非常通用:它可以檢測從鈉到鈾的所有相關(guān)化學(xué)元素。

XRF通常用于材料分析,，即確定樣品中給定物質(zhì)的含量,，如根據(jù)RoHS指令測量珠寶中的金含量或檢測日常物品中的有害物質(zhì)。此外,，XRF還可用于測量涂層厚度:快速,、環(huán)保、無損,。

菲希爾X射線熒光分析基礎(chǔ)和重要儀器性能

測量就是這樣進(jìn)行的,。

當(dāng)X射線設(shè)備開始測量時(shí)，X射線管發(fā)出高能輻射,，也稱為“初級"輻射,。當(dāng)這些X射線擊中樣品中的原子時(shí),，它們會增加能量——也就是說，它們會“激發(fā)"原子——并使原子在其原子核附近發(fā)射電子,，這一過程稱為“電離",。因?yàn)檫@種狀態(tài)是不穩(wěn)定的，所以來自較高電子層的電子移動來填充間隙,，從而發(fā)出“熒光"輻射,。

這種次級輻射的能級類似于指紋:它是每一種元素的特征。檢測器接收熒光并將信號數(shù)字化,。信號處理后,，設(shè)備產(chǎn)生光譜:檢測到的光子能級繪制在X軸上，其頻率(計(jì)數(shù)率)繪制在Y軸上,。樣品中的元素可以根據(jù)光譜中的峰值位置(X軸方向)來識別,。這些峰的水平(Y軸方向)提供了關(guān)于元素濃度的信息。