TC100鍍鋅層漆膜涂層測(cè)厚儀原理

磁性測(cè)厚法

適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量,。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測(cè)量精度高。

渦流測(cè)厚法

適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量,，此種方法較磁性測(cè)厚法精度低,。

超聲波測(cè)厚法

國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器,，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合.但一般價(jià)格昂貴,、測(cè)量精度也不高。

電解測(cè)厚法

此方法有別于以上三種,，不屬于無(wú)損檢測(cè),，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高,，測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩,。

放射測(cè)厚法

此種儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬(wàn)RMB以上），適用于一些特殊場(chǎng)合,。

選型方法編輯 播報(bào)

用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀，磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米,，這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型,，探頭與主機(jī)分離型，前者操作便捷,，后者適用于測(cè)非平面的外形,。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè)，測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米,。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金,，銀等金屬的厚度。

兩用型

儀器由德國(guó)生產(chǎn),，集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能,，可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如：

* 鋼鐵上的銅,、鉻,、鋅等電鍍層或油漆、涂料,、搪瓷等涂層厚度,。

* 鋁、鎂材料上陽(yáng)極氧化膜的厚度,。

* 銅,、鋁、鎂,、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度,。

* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張,、塑料膜的厚度,。

* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。

儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn),、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。

分體兩用型

分體兩用型(4張)

儀器特點(diǎn)

采用雙功能內(nèi)置式探頭,，自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料,，并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行精確測(cè)量。

符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu),，可以在任何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù),。

采用手機(jī)菜單式功能選擇方式，操作十分簡(jiǎn)便,。

可設(shè)定上下限值,，測(cè)量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示,。

穩(wěn)定性*,，通常不必校正便可長(zhǎng)期使用。

技術(shù)規(guī)格

量 程： 0～2000μm ,

電 源： 兩節(jié)5號(hào)電池

TC100鍍鋅層漆膜涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

常規(guī)型

對(duì)材料表面保護(hù),、裝飾形成的覆蓋層,，如涂層、鍍層,、敷層,、貼層、化學(xué)生成膜等,，在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）,。

覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的重要手段,。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,，對(duì)覆層厚度有了明確的要求,。

覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法,，電解法,，厚度差測(cè)量法，稱重法,，X射線熒光法,，β射線反向散射法,，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等,。這些方法中前五種是有損檢測(cè),，測(cè)量手段繁瑣，速度慢,，多適用于抽樣檢驗(yàn),。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴,，測(cè)量范圍較小,。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范,。X射線法可測(cè)極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后,，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能,、多功能、高精度,、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步,。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%,，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣，量程寬,、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,，是工業(yè)和科研使用較廣泛的測(cè)厚儀器。

采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材,，檢測(cè)速度快,，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。