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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
Thick8000型鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀
鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量,、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定,；黃金、鉑,、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè),。
參數(shù)規(guī)格
1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）；
2.同時(shí)檢測(cè)元素：zui多24個(gè)元素,，多達(dá)5層鍍層,；
3.分析含量：一般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）,；
5.SDD探測(cè)器：分辨率低至135eV,；
6.*的微孔準(zhǔn)直技術(shù)：zui小孔徑達(dá)0.1mm,zui小光斑達(dá)0.1mm；
7.樣品觀察：配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭,；
8.準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm,、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合,；
9.儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm,；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm,；
12.X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s,；
13.X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度：小于0.1um,；
性能特點(diǎn)
1.精密的三維移動(dòng)平臺(tái)；
2.的樣品觀測(cè)系統(tǒng),；
3.*的圖像識(shí)別；
4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè),；
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,，自動(dòng)切換；
6.雙重保護(hù)措施,，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞,；
7.采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限,，提高測(cè)試精度,。
安裝要求：
1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃
2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%
3 工作電源：交流220±5V
4 周?chē)荒苡袕?qiáng)電磁干擾。
儀器配置
1 硬件：主機(jī)壹臺(tái),，含下列主要部件：
(1) X光管 (2) 半導(dǎo)體探測(cè)器
(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統(tǒng)
(7) 上照,、開(kāi)放式樣品腔 (8）雙激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
3 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)
計(jì)算機(jī)（品牌,，P4,，液晶顯示屏）、打印機(jī)（佳能,，彩色噴墨打印機(jī)）
4 資料：使用說(shuō)明書(shū)（包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū)）,、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單,、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份,。
Thick600型
是天瑞儀器*的鍍層測(cè)厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu),，適合平面樣品的檢測(cè),，配置的軟件界面簡(jiǎn)潔，測(cè)試樣品用時(shí)40S,，售后服務(wù)可靠及時(shí),。
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：
1、光學(xué)顯微鏡法,。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005
2,、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005
3,、庫(kù)侖法,，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
樣品測(cè)試步驟
1） 每天開(kāi)機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開(kāi)測(cè)試軟件“FpThick"：
用戶使用“Administrator",，密碼：skyray
2） 進(jìn)入測(cè)試軟件后,，選擇“測(cè)試條件"
點(diǎn)擊“確定",，即測(cè)試條件確定（儀器已設(shè)置好）
3） 選擇“工作曲線"
如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe,；其他依次類(lèi)推
4） 放入“Ag片"對(duì)儀器進(jìn)行初始化
初始化完成后,，（峰通道為1105，計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù),，如300以上）,。
5） 待測(cè)樣品測(cè)試
放入待測(cè)的樣品，通過(guò)攝像頭畫(huà)面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,，以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn),。可以通過(guò)軟件提供的十字坐標(biāo)（也稱(chēng)十字光標(biāo)）來(lái)定位該聚焦點(diǎn),，將樣品放在聚焦點(diǎn)位置,。點(diǎn)擊“開(kāi)始"，輸入樣品名稱(chēng)后“確定",。
6） 測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,，報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告"快捷方式中的“鍍層報(bào)告"中找到。
注意：測(cè)試鍍層樣品時(shí),，必須先要確定是什么鍍層,、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。