• 分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

• 分析范圍：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

• 工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

• 測(cè)量時(shí)間：40秒（可根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整）

• 探測(cè)器分辨率：（160±5）eV

• 光管高壓：5-50kV

• 管流：50μA-1000μA

• 準(zhǔn)直器：配置不同直徑準(zhǔn)直孔,，zui小孔徑φ0.2mm

主要原因是我們的性價(jià)比與售后服務(wù)具有很強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)力，這個(gè)優(yōu)勢(shì)不僅僅體現(xiàn)在購買價(jià)格上,，也體現(xiàn)在產(chǎn)品生命周期花費(fèi)的總體成本上,。Thick600鍍鎳測(cè)厚儀是天瑞儀器價(jià)格*的鍍層測(cè)厚儀,；儀器采用下照式結(jié)構(gòu)，適合平面樣品的檢測(cè),，配置的軟件界面簡(jiǎn)潔,，測(cè)試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)可靠及時(shí),。

技術(shù)參數(shù) 

1   分析元素范圍：S-U2   可分析多達(dá)3層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.02μm4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05μm5   定位精度：0.5mm5   測(cè)量時(shí)間：30s-300s6   計(jì)數(shù)率：1000-8000cps

7  儀器適合測(cè)試平面,。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例,，分析的范圍是0.02—30um,，在這個(gè)范圍內(nèi),，才能檢測(cè)。0.5-10um的,，偏差是5%,，就是說真值是1um，用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um,。

性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換：不同樣品材質(zhì)用不同的準(zhǔn)直器移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),，方便定位測(cè)試點(diǎn)高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率 

應(yīng)用領(lǐng)域

鍍層厚度分析,；RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測(cè),；

合金成分分析；

測(cè)試步驟

1.每天開機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開測(cè)試軟件“FpThick"：用戶使用“Administrator",，密碼：skyray2.進(jìn)入測(cè)試軟件后,，選擇“測(cè)試條件"點(diǎn)擊“確定"，即測(cè)試條件確定（儀器已設(shè)置好）3.選擇“工作曲線"如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,，則選擇Ni-Fe,；其他依次類推4.放入“Ag片"對(duì)儀器進(jìn)行初始化初始化完成后，（峰通道為1105,，計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù),，如300以上）。5.待測(cè)樣品測(cè)試放入待測(cè)的樣品,，通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,，以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)?？梢酝ㄟ^軟件提供的十字坐標(biāo)（也稱十字光標(biāo)）來定位該聚焦點(diǎn),，將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開始",，輸入樣品名稱后“確定",。6.測(cè)試完成后即可保持報(bào)告，報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告"快捷方式中的“鍍層報(bào)告"中找到。注意：測(cè)試鍍層樣品時(shí),，必須先要確定是什么鍍層,、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。 

硬件配置 

1. 探測(cè)器2. 高,、低壓電源3. X光管                              4. MCA多道分析器5. 高精密攝像頭6. 移動(dòng)平臺(tái)（自動(dòng)）7. 準(zhǔn)直器8. 標(biāo)準(zhǔn)樣品 

鍍鎳測(cè)厚儀