• 測(cè)試平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng),。

• 探測(cè)器：Si-Pin探測(cè)器

• 工作原理：利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā),，檢測(cè)熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器

• 準(zhǔn)直器大小：φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器

• 溫度要求：15℃至30℃,。

• 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

• 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm

天瑞儀器專業(yè)從事光譜膜厚儀（鍍層/涂層/氧化膜等）測(cè)厚儀器的銷售業(yè)務(wù)及維修服務(wù),，天瑞THICK 800A鍍金膜厚儀俗稱鍍層測(cè)厚儀，膜厚測(cè)試儀,，X-RAY膜厚儀等等,， 主要檢測(cè)金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質(zhì),，減少電鍍成本浪費(fèi),。此儀器特別適合于小的鍍層測(cè)量，如端子,，連接器,，細(xì)小的金線，在五金,，汽車配件．線路板．衛(wèi)浴,，等行業(yè)．也有杰出的表現(xiàn)．可測(cè)量．單層．雙層，合金層等多種鍍層

鍍層厚度測(cè)試儀測(cè)試方法

金屬和塑膠的混合樣品應(yīng)如何測(cè)試,？

答： 盡可能拆分到均勻介質(zhì),既金屬和非金屬分開放在不同工作曲線測(cè)量.

• 與SGS對(duì)比差異的產(chǎn)生,？答： 因?yàn)閄RF是屬于物理方法，是表面測(cè)試儀器.而SGS是采用化學(xué)方法,使用試劑溶解測(cè)試.從測(cè)試原理來講,，這兩種方法是存在差異的,，另外采用的檢測(cè)設(shè)備是不同的,，所以檢測(cè)結(jié)果有可能會(huì)產(chǎn)生差異。尤其是一些電鍍?cè)骷筒痪鶆虿馁|(zhì)更為明顯,。SGS也使用制樣來消除材料不均勻而造成的測(cè)量誤差,。

• 樣品不能保證測(cè)試所需的平面光滑，應(yīng)如何測(cè)試,？答： 樣品的幾何形狀對(duì)測(cè)試結(jié)果可能會(huì)有影響,，一般選擇比較平整的部分進(jìn)行測(cè)試，在軟件的算法上作了一定的處理,，盡可能的降低了樣品幾何形狀不規(guī)則造成的負(fù)面影響,。

• 不同曲線中峰的選擇和邊界選取,？答： 工作曲線的建立和感興趣元素邊界的劃分相對(duì)比較復(fù)雜,，對(duì)操作者的專業(yè)知識(shí)要求較高，需要經(jīng)過長期系統(tǒng)的培訓(xùn)才能掌握,，并且曲線中的峰邊界相對(duì)比較固定,，選定后不能隨意改動(dòng)，為保證儀器數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和安全性,，一般由我司技術(shù)人員制作和修改,。

• 能量值相近，疊加峰的問題如何解決,？

  答：  主要依靠對(duì)各個(gè)元素譜型的熟悉來分析,，一般來說S到Sn之間的元素受激發(fā)釋放出的為K線，就是一個(gè)比較高的主α峰后邊帶一個(gè)比較低的β峰,。Sn以后的元素受激發(fā)釋放出的L線,，一般有兩個(gè)等高或者高度相當(dāng)?shù)姆逋瑫r(shí)出現(xiàn)，在一個(gè)峰被疊加峰影響后可其它峰譜是否出現(xiàn),，沒有出現(xiàn)則說明為疊加峰影響,，反之就不是。處理辦法參考問題8答案,。

• 參數(shù)規(guī)格

• 1   分析元素范圍：K-U

•  

  2   同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層

  3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm

  4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.01μm

  5   定位精度：0.1mm

  5   測(cè)量時(shí)間：30s-300s

  6   計(jì)數(shù)率：1300-8000cps

  7   Z軸升降范圍：0-140mm

  8   X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程：50mm(W)×50mm(D)

  性能特點(diǎn)

  1 滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

  2 φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

  安裝要求：

  1   環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

  2   環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

  3   工作電源：交流220±5V

  4   周圍不能有強(qiáng)電磁干擾,。

鍍層厚度測(cè)試儀