無損X熒光鍍層測厚儀應(yīng)用范圍

－測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用,。請告訴牛津儀器您的具體應(yīng)用，我們將列表可測定的厚度范圍－基本分析功能無標樣檢量線測厚,，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數(shù)方法校正,。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層,、涂層,、薄膜,、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍：Ti22–U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時，可同時測定15種元素多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析－調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能：校正X射線管,、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響,，自動消除系統(tǒng)漂移譜峰計數(shù)時，峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標準樣品和實測樣品間,，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算－測量自動化功能(要求XY程控機構(gòu))鼠標激活測量模式：“PointandShoot"多點自動測量模式：隨機模式,、線性模式、梯度模式,、掃描模式,、和重復(fù)測量模式測量位置預(yù)覽功能激光對焦和自動對焦功能－樣品臺程控功能(要求XY程控機構(gòu))設(shè)定測量點OneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預(yù)覽(圖表顯示)

－統(tǒng)計計算功能平均值、標準偏差,、相對標準偏差,、大值、小值,、數(shù)據(jù)變動范圍,、數(shù)據(jù)編號、CP,、CPK,、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組,、X-bar/R圖表直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能

－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員,、分析員、工程師－任選軟件統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書液體樣品分析,，如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測材料和合金元素分析貴金屬檢測,，如Aukarat評價

無損X熒光鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)

重量：90 kg

相互獨立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回收程序

長期工作穩(wěn)定性高

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層

無損熒光鍍層測厚儀一次可同時分析多達五層鍍層

薄可測試0.005μm

分析含量一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm