SRM3451低溫Seebeck系數(shù)標(biāo)準(zhǔn) (美國NIST)主要用于在 10 K 至 390 K 的溫度范圍內(nèi)校準(zhǔn)塞貝克系數(shù)測量設(shè)備（用于散裝材料）,。 

規(guī)格：

SRM 3451 由一個(gè)條形工件（約 3.5 mm × 2.5 mm × 8.0 mm) 的非化學(xué)計(jì)量碲化鉍（n 型,，富含 Te,，Bi/Te 摩爾比約為 2/3,，式 Bi2Te3+x）,。

認(rèn)證值和不確定性：

NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值,，因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏碓炊家颜{(diào)查或考慮在內(nèi) [1],。使用微分穩(wěn)態(tài) (DC) 技術(shù)對 Quantum Design Physical Property 獲得認(rèn)證值測量系統(tǒng) (PPMS)，可在表 1 中找到,。

不確定性分析是根據(jù) ISO 指南 [2] 中包含的建議進(jìn)行的,。與塞貝克系數(shù)測量結(jié)果相關(guān)的不確定性被歸類為可以統(tǒng)計(jì)評估的成分（A 型）和不能進(jìn)行統(tǒng)計(jì)評估的成分（B 型）。 A 類組件包括樣本間變化和非系統(tǒng)電壓和/或熱偏移,，這些組件基于組合的測量系列進(jìn)行最佳統(tǒng)計(jì)處理,，而 B 類組件是系統(tǒng)性的，源自儀器,、數(shù)據(jù)采集和溫度計(jì)由冷熱溫度和電勢的測量引起的校準(zhǔn)誤差,。

SRM3451低溫Seebeck系數(shù)標(biāo)準(zhǔn) (美國NIST)為了推導(dǎo)出平均基準(zhǔn)溫度的塞貝克系數(shù)不確定性分量，塞貝克系數(shù)數(shù)據(jù)被參數(shù)化,，并且該塞貝克系數(shù)數(shù)據(jù)的導(dǎo)數(shù) Sm(T) 乘以基準(zhǔn)溫度和單個(gè)溫度的組合不確定度,。塞貝克系數(shù)的最終組合標(biāo)準(zhǔn)不確定度是組合 A 型和 B 型不確定度分量的平方根和。在正態(tài)分布假設(shè)下,，通過將組合標(biāo)準(zhǔn)不確定性乘以 k = 2,，即 Sm ± kσ，獲得擴(kuò)展的不確定性區(qū)間,。