5.1 已發(fā)現(xiàn)硬度測試對于材料評(píng)估,、制造過程的質(zhì)量控制和研發(fā)工作非常有用。硬度雖然本質(zhì)

上是經(jīng)驗(yàn)性的,，但可以與許多金屬和

合金的抗拉強(qiáng)度相關(guān),，并且也是可加工性、耐磨性,、韌性和延展性的指標(biāo),。

5.2 顯微壓痕測試用于評(píng)估和量化在小距離內(nèi)發(fā)生的硬度變化。這些變化可能是有意的,，例如通

過局部表面硬化產(chǎn)生,，例如來自噴丸、冷拉,、火焰硬化,、感應(yīng)硬化等，或來自諸如滲碳,、氮化,、碳氮共滲等工藝；

或者,，它們可能是由于脫碳,、使用中的局部軟化或成分/微觀結(jié)構(gòu)分離問題等問題導(dǎo)致的意外變化。低測

試力也將硬度測試擴(kuò)展到對于宏觀壓痕測試來說太薄或太小的材料,。顯微壓痕測試允許對特定相或成分和

區(qū)域或梯度進(jìn)行硬度測試,，這些梯度太小而無法通過宏觀壓痕測試進(jìn)行評(píng)估。

5.3 因?yàn)轱@微壓痕硬度測試將揭示大多數(shù)材料中普遍存在的硬度變化,，單個(gè)測試值可能不能代表整體硬度,。

1000 gf 的維氏測試可用于確定整體硬度，但對于任何硬度測試,，建議進(jìn)行多次壓痕并根據(jù)需要或要求計(jì)算平均值

和標(biāo)準(zhǔn)偏差,。

5.4 顯微壓痕硬度測試通常用于量化在小距離內(nèi)發(fā)生的硬度變化。要確定這些差異,，需要非常小的物理壓痕,。在

非常低的測試力下產(chǎn)生壓痕的測試儀必須經(jīng)過精心構(gòu)造，以便在所需位置準(zhǔn)確地施加測試力,，并且必須具有高質(zhì)

量的光學(xué)系統(tǒng)來測量小壓痕的對角線（或?qū)蔷€）,。在 1.2 中定義的力范圍的上限范圍內(nèi)的測試力可用于評(píng)

估整體硬度。一般來說,，維氏壓頭更適合確定體積（平均）性能,，因?yàn)榫S氏硬度不會(huì)因測試力的選擇而改變，從 25

 到 1000 gf，因?yàn)閴汉蹘缀涡螤钭鳛閴汉凵疃鹊暮瘮?shù)是恒定的,。然而,，努氏壓痕，作為深度的函數(shù)在幾何上并不相同,，

并且努氏硬度會(huì)有變化,，特別是在試驗(yàn)力 <200 gf 時(shí)，超過 1.2 中定義的力范圍（以及高于此范圍）,；因此,，努氏硬

度通常不用于定義體積硬度，除非在 500 gf 時(shí),，E140 可以轉(zhuǎn)換為其他測試標(biāo)度,，并且不應(yīng)在超過 1000 gf 的測試力

下進(jìn)行努氏測試。大多數(shù)表殼硬度變化的努氏試驗(yàn)是在 100 到 500 gf 的力下進(jìn)行的,。如果進(jìn)行測試是為了滿足規(guī)定的

整體硬度值,，例如 HRC，那么大多數(shù)此類測試將在 500 gf 負(fù)載下使用努氏進(jìn)行,。由于長努普對角線和短努普對角線之間

的巨大差異,，與維氏壓頭相比，努氏壓頭通常更適合確定在非常小的距離內(nèi)的硬度變化,。力為 25 gf 的 Vickers 和 Knoop 

測試容易受到不的影響,，因?yàn)楹茈y通過光學(xué)顯微鏡以高精度和可重復(fù)性測量極小的壓痕 (<20 µm)。在 25 gf 的力下

且將會(huì)影響測試結(jié)果,；隨著測試力的降低,，這個(gè)問題變得更加嚴(yán)重。力為 25 gf 的 Vickers 和 Knoop 測試容易受到不

的影響,，因?yàn)楹茈y通過光學(xué)顯微鏡以高精度和可重復(fù)性測量極小的壓痕 (<20 µm),。在 25 gf 的力下進(jìn)行的測試應(yīng)被認(rèn)為是

定性的。同樣,，應(yīng)盡可能避免產(chǎn)生長度小于 20 

µm 的壓痕的測試力,，并應(yīng)將其視為定性的。試樣制備程序在消除制備引起的損傷方面的成功可以并且將會(huì)影響測試結(jié)果,；

隨著測試力的降低,，這個(gè)問題變得更加嚴(yán)重。力為 25 gf 的 Vickers 和 Knoop 測試容易受到不的影響,，因?yàn)楹茈y通過

光學(xué)顯微鏡以高精度和可重復(fù)性測量極小的壓痕 (<20 µm),。在 25 gf 的力下進(jìn)行的測試應(yīng)被認(rèn)為是定性的。同樣,，應(yīng)盡可

能避免產(chǎn)生長度小于 20 µm 的壓痕的測試力,，并應(yīng)將其視為定性的,。試樣制備程序在消除制備引起的損傷方面的成功可以

并且將會(huì)影響測試結(jié)果；隨著測試力的降低,，這個(gè)問題變得更加嚴(yán)重,。應(yīng)盡可能避免產(chǎn)生長度小于 20 µm 的壓痕的測試力，并應(yīng)將其視為定性的,。試樣制備程序在消除制備引起的損傷方面的成功可以并且將會(huì)影響測試結(jié)果；隨著測試力的降低,，這個(gè)問題變得更加嚴(yán)重,。應(yīng)盡可能避免產(chǎn)生長度

小于 20 µm 的壓痕的測試力，并應(yīng)將其視為定性的,。試樣制備程序在消除制備引起的損傷方面的成功可以并且將會(huì)影響測

試結(jié)果,；隨著測試力的降低，這個(gè)問題變得更加嚴(yán)重,。