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掃描電鏡EDS有哪些分析功能

閱讀:2447      發(fā)布時(shí)間:2024-6-5
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 掃描電子顯微鏡(SEM)結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS或EDX)技術(shù),,能夠提供多種成分分析功能,。以下是SEM-EDS的主要分析功能:

1. 定性分析

EDS可以識(shí)別樣品中的元素,通過(guò)檢測(cè)特征X射線峰來(lái)確定元素的存在,。

元素識(shí)別:檢測(cè)并識(shí)別樣品中的所有元素,,通常范圍從硼(B)到鈾(U)。

光譜分析:顯示樣品的X射線光譜圖,,通過(guò)光譜中的特征峰來(lái)識(shí)別不同元素,。

2. 定量分析

EDS不僅可以識(shí)別元素,還可以定量分析其含量,。

元素含量:通過(guò)分析X射線峰的強(qiáng)度,,計(jì)算樣品中各元素的重量百分比和原子百分比,。

標(biāo)準(zhǔn)化方法:使用標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn),提高定量分析的準(zhǔn)確性,。

3. 面掃描分析(Mapping)

EDS可以生成元素分布圖,,顯示樣品表面各元素的空間分布情況。

元素分布圖:通過(guò)面掃描技術(shù),,生成樣品表面各元素的二維分布圖像,。

多元素映射:同時(shí)生成多個(gè)元素的分布圖,顯示不同元素在樣品中的共存和分布關(guān)系,。

4. 線掃描分析(Line Scan)

通過(guò)沿指定的線掃描樣品表面,,顯示元素沿該線的分布情況。

線掃描圖:沿指定線段掃描,,顯示各元素信號(hào)強(qiáng)度隨位置的變化,。

定量剖面:提供定量的元素分布剖面圖,顯示各元素在掃描線上的濃度變化,。

5. 點(diǎn)分析(Spot Analysis)

對(duì)樣品的特定點(diǎn)進(jìn)行詳細(xì)的元素分析,,適用于微小區(qū)域或特征的成分分析。

單點(diǎn)分析:對(duì)樣品中的某個(gè)特定微小區(qū)域進(jìn)行詳細(xì)的元素分析,。

多點(diǎn)分析:在樣品不同點(diǎn)位進(jìn)行成分分析,,比較不同區(qū)域的元素組成。

6. 厚度分析

利用EDS分析薄膜或多層結(jié)構(gòu)樣品的厚度,。

薄膜厚度:通過(guò)分析特征X射線信號(hào)的衰減,,估算薄膜或多層結(jié)構(gòu)的厚度。

分層結(jié)構(gòu):分析樣品的多層結(jié)構(gòu),,確定每一層的厚度和元素組成,。

7. 相分析

通過(guò)結(jié)合元素分布信息,對(duì)樣品中的不同相進(jìn)行分析,。

相識(shí)別:根據(jù)元素組成和分布,,識(shí)別樣品中的不同相或化合物。

相對(duì)比:分析不同相的元素組成和相互分布關(guān)系,。

8.實(shí)際操作步驟

樣品準(zhǔn)備:確保樣品表面導(dǎo)電,,必要時(shí)進(jìn)行導(dǎo)電處理(如涂覆金屬層)。

SEM成像:使用SEM獲取高分辨率圖像,,確定分析區(qū)域,。

EDS設(shè)置:選擇適當(dāng)?shù)腅DS分析參數(shù),如加速電壓,、束流強(qiáng)度和采集時(shí)間,。

數(shù)據(jù)采集:定性分析:采集X射線光譜,識(shí)別樣品中的元素,。

定量分析:根據(jù)光譜峰值強(qiáng)度計(jì)算元素含量,。

面掃描和線掃描:進(jìn)行元素分布圖和線掃描圖的采集,。

點(diǎn)分析:對(duì)特定點(diǎn)進(jìn)行詳細(xì)成分分析。

數(shù)據(jù)處理和分析:使用EDS軟件處理數(shù)據(jù),,生成光譜圖,、分布圖和定量結(jié)果。

解釋和分析結(jié)果,,確定樣品的成分和結(jié)構(gòu)信息,。

通過(guò)這些分析功能,SEM-EDS可以為材料科學(xué),、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué),、冶金學(xué)等領(lǐng)域提供詳細(xì)的元素成分和分布信息,。

澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡

 

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