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原位掃描電鏡的應(yīng)用原理

閱讀:2085      發(fā)布時(shí)間:2023-10-25
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原位掃描電鏡(SEM)的應(yīng)用原理主要是利用電子成像來觀察樣品的表面形貌,。當(dāng)一束極細(xì)的高能電子束在試樣上掃描時(shí),,與試樣相互作用產(chǎn)生各種物理信息,如二次電子,、背散射電子,、特征X射線和連續(xù)譜X射線、透射電子等,。通過對(duì)這些信息的接受,、放大和顯示成像,獲得測試試樣表面形貌的觀察,。
SEM的分辨率高于光學(xué)顯微鏡的分辨率,,因?yàn)殡娮拥牟ㄩL遠(yuǎn)小于光的波長。此外,,SEM還可以進(jìn)行樣品表面的元素分析,,如C、S、N等元素的分布情況,。
在具體應(yīng)用中,,原位掃描電鏡可以用于材料科學(xué)、生物學(xué),、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究和質(zhì)量控制,。例如,在材料科學(xué)領(lǐng)域,,SEM可以觀察金屬,、陶瓷、高分子等材料的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu),;在生物學(xué)領(lǐng)域,,SEM可以觀察細(xì)胞和組織的表面形貌和結(jié)構(gòu);在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,,SEM可以用于疾病診斷和藥物研發(fā)等,。
原位掃描電鏡的應(yīng)用原理是通過電子束與樣品相互作用產(chǎn)生各種物理信息,對(duì)這些信息進(jìn)行接收,、放大和顯示成像,,從而獲得試樣表面形貌和結(jié)構(gòu)的信息。

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