臺(tái)式掃描電鏡是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過(guò)多級(jí)電磁透鏡匯集成細(xì)小直徑一般為1～5nm的電子束相應(yīng)束流為10-11～10-12A。在末級(jí)透鏡上方掃描線圈的作用下,，使電子束在試樣表面做光柵掃描行掃+幀掃,。入射電子與試樣相互作用會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子,、X射線等各種信息,。這些信息的二維強(qiáng)度分布隨試樣表面的特征而變。 這些特征有表面形貌,、成分,、晶體取向、電磁特性等等,。將各種探測(cè)器收集到的信息按順序成比率地轉(zhuǎn)換成視頻信號(hào),，再傳送到同步掃描的顯像管并調(diào)整其亮度，就可以得到一個(gè)反應(yīng)試樣表面狀況的掃描圖像,。如果將探測(cè)器接收到的信號(hào)進(jìn)行數(shù)字化處理即轉(zhuǎn)變成數(shù)字信號(hào),，就可以由計(jì)算機(jī)做進(jìn)一步的處理和存儲(chǔ)。
臺(tái)式掃描電鏡應(yīng)用范圍很廣,，包括斷裂失效分析,、產(chǎn)品缺陷原因分析、鍍層結(jié)構(gòu)和厚度分析,、涂料層次與厚度分析,、材料表面磨損和腐蝕分析、耐火材料的結(jié)構(gòu)與蝕損分析等等,，結(jié)合鋼鐵材料的研究大概列舉如下,。
1、機(jī)械零部件失效分析,，可根據(jù)斷口學(xué)原理判斷斷裂性質(zhì)如塑性斷裂,、脆性斷裂、疲勞斷裂,、應(yīng)力腐蝕斷裂,、氫脆斷裂等，追溯斷裂原因,，調(diào)查斷裂是跟原材料質(zhì)量有關(guān)還是跟后續(xù)加工或使用情況有關(guān)等等,。
2,、鋼鐵產(chǎn)品質(zhì)量和缺陷分析，如連鑄坯裂紋,、氣泡,、中心縮孔；板坯過(guò)燒導(dǎo)致的晶界氧化,；軋制過(guò)程造成的機(jī)械劃傷,、折疊、氧化鐵皮壓入,；過(guò)酸洗導(dǎo)致的蝕坑,；涂層剝落及其它缺陷等等。由于掃描電鏡的分辨率和景深比電子探針的高,，因而,，可從新鮮斷口上獲得更為更多的信息，如晶界碳化物,、中心疏松等,。
3，利用高溫樣品臺(tái),，可以觀察材料在加熱過(guò)程中組織轉(zhuǎn)變的過(guò)程,，研究不同材料在熱狀態(tài)下轉(zhuǎn)變的差異。在材料工藝性能研究方面,，可以直接觀察組織形態(tài)的動(dòng)態(tài)變化,，彌補(bǔ)了以前只能通過(guò)間接觀察方法的不足。例如,，耐火材料和鐵氧體的燒結(jié)溫度都在1000℃以上,，實(shí)驗(yàn)中可以觀察材料的原位變化，待冷卻下來(lái)后,，結(jié)合能譜儀和EBSD,，進(jìn)而可以分析變化后的物相。
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