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賽默飛世爾科技智能制造與過程分析

科普帖 | XRF技術(shù)如何助力土壤元素的精準(zhǔn)檢測?

時間:2023-5-18 閱讀:562
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X射線熒光(XRF)是一種常用的化學(xué)分析技術(shù),,用于對環(huán)境空氣中的微粒土壤與沉積物中的無機(jī)污染物進(jìn)行檢測X射線熒光這兩個詞對非科學(xué)家來說可能有些神秘,,但可以簡單地進(jìn)行如下解釋,。

讓我們從“熒光”這個詞開始。大多數(shù)人從學(xué)校教室,、工廠和商店里常見的熒光燈中知道這個詞,。“熒光”的簡單意思是輻射出光或其他能量,。典型的熒光燈使用電力來激發(fā)氬和汞原子,使之產(chǎn)生白光輻射,,而白熾燈產(chǎn)生電子作為光源,。

XRF儀器使用X射線來“激發(fā)”材料,以便通過識別樣品中的元素(定性分析)或通過測定樣品中某種元素的強(qiáng)度(定量分析)來表征其組成,。

 

X射線光譜學(xué)

 

那么,,“X射線”這個詞是怎么回事?

我們提到X射線是XRF儀器中的激發(fā)源,,但在我們的定義中,,這不是它的主要目的。特征X射線是激發(fā)過程的副產(chǎn)品,。為此,,我們需要一點科學(xué)知識,。X射線是電磁波譜的一個子集,,而電磁波譜涵蓋了從無線電波到可見光,再到X射線及伽馬射線,。所有材料都由原子組成,,不同原子在元素周期表中表示為不同元素。

 

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原子由亞原子粒子組成,,包括:中子,、質(zhì)子和電子。質(zhì)子和電子是帶電的,,而中子是“中性的”,。作為化學(xué)的真正主力,電子通過原子核的質(zhì)子電荷束縛在原子上,。當(dāng)一個原子失去一個電子時,,它會被電離,原子的電荷通常會吸引其他原子的原子核以形成化學(xué)鍵,。大多數(shù)元素,,特別是金屬,傾向于與氧結(jié)合并被氧化——比如鐵上的銹,。它們可以與自身結(jié)合,,形成一種元素材料,或者找到像鈉這樣的高活性原子進(jìn)行結(jié)合,,從而造成各種破壞,。在常見的化合物中,大多數(shù)元素與其他元素相處時表現(xiàn)穩(wěn)定,。

 

 

用特征X射線能量分類元素

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我們?nèi)绾潍@得并分類特征X射線,?

電子在一系列殼層中圍繞原子核運行,,這些殼層被標(biāo)記為K、L,、M,、N等。

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當(dāng)內(nèi)殼層(低能級)因輻射失去一個電子,,變得不平衡時,,外殼層(高能級)中的電子會躍遷到內(nèi)殼層以保持穩(wěn)定。這個電子的躍遷過程會發(fā)射出在X射線范圍內(nèi)特定的能量,。在你的儀器里放一個探測器來測量這些特征X射線能量,,你就能知道你的材料里有什么元素啦。如果你看XRF的元素周期表,,你就會發(fā)現(xiàn)一系列數(shù)字,,這些數(shù)字代表了從外殼層到內(nèi)殼層的每一次躍遷的特征X射線的能量,不同的元素都具有唯一不同的數(shù)字組合,。這些數(shù)字組合表示的能量都是以千電子伏特(Kev)來描述,。

 

 

解決沖突的光譜峰


如果你看XRF元素周期表中各元素的特征X射線能量,你會注意到,,當(dāng)超過元素鋅時,,L殼層的數(shù)字與元素鈉的k殼層具有相近的能量,這種現(xiàn)象會一直在原子序數(shù)靠后的元素中反復(fù)上演,。例如,,鋇-L(4.467keV)幾乎與鈦-K(4.508keV)相同。地質(zhì)學(xué)家和農(nóng)學(xué)家觀察土壤中的礦物質(zhì),,很可能會在他們的樣本中獲得大量難以分辨的L線能量,。


能量色散X射線熒光光譜法

 

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能量色散XRF(EDXRF)儀器激發(fā)并檢測從氟到鈾的所有元素,提供具有表征材料特性的能量峰的能量譜,。如果使用者對材料有一定的了解,,他們可以調(diào)整不同的激發(fā)能量,以選擇更為特定的光譜范圍或使用濾光片組件來篩選出沖突的能量,。XRF軟件還可以使用光譜擬合算法來幫助校準(zhǔn)儀器,,以獲得更高的精度。


 

波長色散X射線熒光光譜法

 

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但在某些情況下,,重疊的能量根本無法在能量色散儀器中解析,。為此,我們需要用到布拉格定律和專門的設(shè)備,。布拉格定律描述了X射線如何穿過晶體中的平行原子平面,。在樣品材料被激發(fā)后,產(chǎn)生的特征X射線被約束并以平行光的方式通過狹縫(準(zhǔn)直器)進(jìn)而通過晶體發(fā)生衍射現(xiàn)象,,該晶體起到高靈敏度X射線過濾器的作用,。在EDXRF中,,具有鋇和鈦的樣品將顯示出約4.5keV能量的一個寬峰,掩蓋了兩種元素的存在,,而WDXRF光譜儀則能夠顯示出來自這兩種元素的兩個不同的峰,。

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使用XRF分析空氣質(zhì)量和土壤/沉積物樣品


 

X射線熒光是環(huán)境科學(xué)家和監(jiān)管機(jī)構(gòu)檢測空氣中的微粒和識別土壤和沉積物中的污染物的首選技術(shù)。由于該技術(shù)的非破壞性及其靈敏度,,X射線熒光是分析與空氣監(jiān)測相關(guān)的樣品的備受青睞的方法,。EDXRF僅需20分鐘就可以從收集環(huán)境可吸入顆粒物的過濾器中識別多達(dá)40種元素。由于對空氣濾膜進(jìn)行的是非破壞性分析,,因此它們還可以被其他技術(shù)進(jìn)行更進(jìn)一步分析,。

我們的Thermo Scientific ARL Quant’X EDXRF光譜儀提供的最低檢出限在標(biāo)準(zhǔn)上優(yōu)于US EPA (美國環(huán)保署)Compendium Method IO-3.3中規(guī)定的可吸入顆粒物XRF分析的檢出限。

 

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富含礦物質(zhì)的土壤和沉積物樣品的成分需要更為深入的精確分析,。例如,,鉛的能級為10.549keV,而砷的能級為10.532keV,,兩者無法用EDXRF進(jìn)行分辨,。由于其準(zhǔn)確度、精密度,、寬濃度范圍(ppm至100%)和易用性,,WDXRF是土壤和沉積物分析的常用技術(shù),。自動化技術(shù)被用于處理元素組成更復(fù)雜的高通量樣品,。我們的Thermo Scientific ARL Perform’X WDXRF 光譜儀專為高通量環(huán)境實驗室而設(shè)計,最快每小時能夠處理60多個樣品,,提供多達(dá)84種元素的快速精確分析,。

 




 

 

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