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一文了解半導體掃描電子顯微鏡
閱讀：823 發(fā)布時間：2023-6-15
掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope,，簡稱SEM）,，被廣泛地應用于化學,、生物,、醫(yī)學,、冶金,、材料、半導體制造,、微電路檢查等各個研究領域和工業(yè)部門,。
掃描電子顯微鏡（SEM）主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極細的電子束去掃描樣品,，通過探測由入射電子轟擊樣品表面激發(fā)出來的電子信號,，達到對物質微觀形貌的表征。掃描電子顯微鏡可以觀察到半導體材料的形貌特征,，也可以通過觀察材料在循環(huán)過程中發(fā)生的形變,，判斷其對應的循環(huán)保持能力。
掃描電子顯微鏡SEM應用范圍：
1,、材料表面形貌分析,，微區(qū)形貌觀察
2、各種材料形狀,、大小,、表面、斷面,、粒徑分布分析
3,、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析
Epoxy Technology Inc產(chǎn)品廣泛用于半導體,、光電,、光通訊、醫(yī)學,、汽車,、航天航空、航空電子設備以及電子裝配市場,。
掃描電子顯微鏡（SEM）中鍍鋁膜的玻璃鏡片與鋁金屬底座之間的導電粘接,，推薦H20E導電膠，產(chǎn)品可適應真空環(huán)境下使用,，滿足低益氣,，粘接強度牢固，耐震動沖擊測試等,。