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介電常數(shù)測介質(zhì)損耗測試儀

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  • 型號 ZJD-C
  • 品牌 其他品牌
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更新時間:2023-08-04 10:04:38瀏覽次數(shù):695

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 5萬-10萬
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,電氣,綜合
ZJD-C介電常數(shù)測介質(zhì)損耗測試儀創(chuàng)新設(shè)計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,,它給從事高頻電子設(shè)計的工程師,、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,,測量值更為精確,,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率,、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì),,無須關(guān)注量程和換算單位,。

詳細(xì)介紹

一,、介電常數(shù)測介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)特性:

 

  Q 值測量范圍:       2 ~ 1023,量程分檔:30100﹑300﹑1000,,自動換檔或手動換檔

 

  固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

 

  工作誤差:≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

 

  電感測量范圍:       4.5nH ~ 140mH

 

  電容直接測量范圍:   1 ~ 200pF

 

  主電容調(diào)節(jié)范圍:     18 ~ 220pF

 

  主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %

 

  信號源頻率覆蓋范圍:  100kHz ~ 160MHz

 

  頻率分段 ( 虛擬 ): 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz

 

  頻率指示誤差        :3 × 10 -5 ± 1 個字

 

二,、介電常數(shù)測介質(zhì)損耗測試儀夾具工作特性

 

  1.平板電容器:

 

  極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm   可選

 

  極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

 

  2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm

 

  3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

 

  4.測微桿分辨率:0.001mm

 

三,、配置:

 

  主機(jī)一臺

 

  電感九支

 

  夾具一套

 

  隨機(jī)文件一套



警告:使用本標(biāo)準(zhǔn)的人員應(yīng)有正規(guī)實驗室工作的實踐經(jīng)驗,。本標(biāo)準(zhǔn)并未指出所有可能的安全問題,。使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧?,并保證符合國家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件,。

 

1,、范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的兩種測定方法。方法A為工頻(50Hz)下的測定方法,,方法B為高頻電場下的測定方法,。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于硫化橡膠。

 

2,、規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款,。凡是注日期的引用文件,,其隨后所有的修(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本,。凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn),。

GB/T 2941 橡膠物理試驗方法試樣制備和調(diào)節(jié)通用程序(GB/T 2941-2006,,ISO 23529:2004,IDT)

 

3,、術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn),。

3.1

介質(zhì)損耗 dielectric loss

絕緣材料在電場作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),,在其內(nèi)部引起的能量損耗,。

3.2

損耗角 δloss angleδ

在交變電場下,電介質(zhì)內(nèi)流過的電流向量和電壓向量之間的夾角(功率因數(shù)角φ)的余角(δ),。

3.3

損耗角正切 tanδ loss tangentδ

介質(zhì)損耗因數(shù) dielectric loss factor

介質(zhì)損耗角正切值。

3.4

介電常數(shù) εdielectric constant

絕緣材料在電場作用下產(chǎn)生極化,,電容器極板間有電介質(zhì)存在時的電容量C,、與同樣形狀和尺寸的真空電容量C0之比。

注:不同試樣,、不同電極的真空電容和邊緣校正的計算參見附錄A,。

 

4測試電極

4.1 電極材料

見表1,。

表 1 電極材料

電極材料

規(guī)格要求

適應(yīng)范圍

鋁箔和錫箔

鋁箔和錫箔應(yīng)退火,,厚度為0.01mm左右,用凡士林,、變壓器油,、硅油或其他合適油作為粘接劑

接觸電極用

導(dǎo)電橡膠

體積電阻系數(shù)不大于300Ω·cm(交流),邵爾A硬度為40~60,,表面應(yīng)光滑

接觸電極用

表面可鍍防腐蝕的金屬層,,但鍍層應(yīng)均勻*,工作面粗糙度Ra值應(yīng)不低于3.2

一般做輔助電極用,,對軟質(zhì)膠可直接作接觸電極用

導(dǎo)電粉末

石墨粉,,銀粉,銅粉等

管狀試樣內(nèi)電極用

4.2 電極尺寸

4.2.1 板狀試樣電極

4.2.1.1 方法A:板狀電極尺寸見表2,,電極如圖1所示,。

表 2 板狀試樣電極尺寸 單位為毫米

D1

D2

D3

D4

H1

H2

25.0±0.1

29.0±0.1

40

≥40

30

5

50.0±0.1

54.0±0.1

74

≥74

 

1——測量電極;

2——保護(hù)電源,;

3——試樣,;

4——高壓電極,。

圖 1 板狀試樣電極配置(工頻)

4.2.1.2 方法B:采用二電極系統(tǒng)。電極尺寸大小與試樣尺寸相等,,或電極小于試樣尺寸,。板狀試樣電極直徑為φ38.0mm±0.1mm、φ50.0mm±0.1mm,、φ70.0mm±0.1mm,。

4.2.2 管狀試樣電極

4.2.2.1 方法A:管狀試樣電極尺寸見表3,電極如圖2所示,。

表 3 管狀試樣電極尺寸

L1

L2

L3

g

25

5

≥40

2.0±0.1

50

10

≥74

 

 

1——保護(hù)電極,;

2——測量電極;

3——高壓電極,;

4——試樣,。

圖 2 管狀試樣電極配置(工頻)

4.2.2.2 方法B:管狀試樣電極尺寸,電極如圖3所示,。

管狀試樣的電極長度為50.0mm±0.1mm或70.0mm±0.1mm,。

 

1——試樣;

2——上電極,;

3——下電極,。

圖 3 管狀試樣電極配置(高頻)

4.3 電極裝置

在進(jìn)行高頻測試時,根據(jù)測試頻率與測試要求可用支架電極(如圖4),,當(dāng)頻率大于或等于1MHz且小于10MHz時,,宜用測微電極(如圖5);當(dāng)頻率大于或等于10MHz時,,應(yīng)用測微電極,。

 

1——上蓋螺釘;

2——上蓋板,;

3——升降螺桿,;

4——上電極導(dǎo)軌;

5——螺帽,;

6——導(dǎo)筒,;

7——導(dǎo)槽螺釘;

8——絕緣桿,;

9——高壓電極,;

10——試樣;

11——測量電極,;

12——保護(hù)電極,;

13——絕緣板(聚四氟乙烯板);

14——絕緣支腳,;

15——有機(jī)玻璃板,。

圖 4 支架電極

 

1——微調(diào)管形電容器,;

2——測試樣品電容器;

3——上支撐板,;

4——上電極,;

5——試樣;

6——下電極,;

7——底板,。

圖 5 測微電極

 

5測試儀器

5.1 方法A

5.1.1 測試儀器為工頻高壓電橋,,其原理圖如圖6所示,。

 

T  試驗變壓器;

C3  標(biāo)準(zhǔn)電容器,;

C5  試樣,;

R3  可變電阻;

C2,、C4 可變電容,;

R4  固定電阻;

G-  電橋平衡指示器,;

P  放電器,。

圖 6 工頻高壓電橋原理圖

5.1.2 測量范圍

損耗角正切(tanδ):0.001~1;電容(C):40pF~2000pF,。

5.1.3 電橋測量誤差

測量時誤差不超過10%,,當(dāng)試樣tanδ小于0.001時測量誤差不超過0.0001,,電容的測量誤差不超過5%,,標(biāo)準(zhǔn)電容器的tanδ應(yīng)小于0.0001。

5.1.4 電橋必須有良好的屏蔽接地裝置,。

5.2 方法B

5.2.1 方法B的測試儀器有兩種:一種是諧振升高法(Q表),,另一種時變電鈉法。

5.2.1.1 諧振升高法(Q表)

其測試原理圖如圖7所示,。

 

A  電流表,;

R0  耦合電阻;

L  輔助線圈,;

C  標(biāo)準(zhǔn)電容,;

C0  試樣;

V,、V1 電壓表(用Q值表示),。

圖 7 Q表原理圖

5.2.1.1.1 測量范圍

頻率為50Hz~50MHz,電容40pF~500pF,,Q值10~600,。

5.2.1.1.2 測量誤差

電容誤差:±(0.5%C+0.1pF),,Q值±10%;有關(guān)儀器的測量誤差均為±10%,。

5.2.1.2 變電鈉法

其測試原理如圖8所示,。

 

C——可調(diào)電容;

L——諧振線圈,;

CT——管形微調(diào)電容,;

Cu——主電容;

Cx——試樣,。

圖 8 高頻介質(zhì)損耗儀原理圖

 

6,、試樣

6.1 試樣尺寸

6.1.1 方法A試樣尺寸見表4。

表 4 試樣尺寸 單位為毫米

試樣

尺寸

厚度

板狀

圓形:φ100

正方形:邊長100

軟質(zhì)橡膠1.0±0.1

硬質(zhì)橡膠2.0±0.2

管狀

管長100

6.1.2 方法B試樣尺寸見表5,。

表 5 試樣尺寸 單位為毫米

試樣

尺寸

厚度

板狀

圓形:φ38,,φ50、φ100

正方形:邊長100

軟質(zhì)橡膠1.0±0.1

硬質(zhì)橡膠2.0±0.2

管狀

管長50,,管長70

6.2 試樣的制備

試樣的制備應(yīng)符合GB/T 2941的規(guī)定,,也可以在符合試樣厚度尺寸的膠板上用旋轉(zhuǎn)刀進(jìn)行裁切,制樣方法的不同,,其試驗結(jié)果無可比性,。

6.3 試樣數(shù)量

試樣的數(shù)量不少于3個。

 

 

 

7,、硫化與試驗之間的時間間隔

試樣在硫化與試驗之間的時間間隔按GB/T2941的規(guī)定執(zhí)行,。

 

 

8試驗條件

8.1 試樣表面應(yīng)清潔,、平滑,,無裂紋、氣泡和雜質(zhì)等,,試樣表面應(yīng)用蘸有無水乙醇的布擦洗,。

8.2 試樣應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)實驗室溫度及濕度下至少調(diào)節(jié)24h。

8.3當(dāng)試樣處理有特殊要求時,,可按其產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的進(jìn)行,。

 

9試驗步驟

9.1 方法A

9.1.1 試驗電壓為1000V~3000V,,一般情況下為1000V,,電源頻率為50Hz。

9.1.2 按設(shè)備說明書正確的連接,。

9.1.3 接通電源預(yù)熱30min,。

9.1.4 將試樣接人電橋C、的橋臂中,加上試驗電壓,,根據(jù)電橋使用方法進(jìn)行平衡,,讀取R3和tanδ或C4的值。

9.2 方法B—諧振升高法(Q表法)

9.2.1 按照Q表的操作規(guī)程調(diào)整儀器,,選定測量頻率,,測定C1和Q1的值。

9.2.2 將試樣放入測試電極中,,并調(diào)節(jié)電容器C,,使電路諧振,達(dá)到大Q值記下調(diào)諧電容量C2和Q2的值,。

9.2.3 將試樣從測試電極中取出,,調(diào)節(jié)C或測試電極的距離,使電路重新諧振,,記下C,、或測試電極的校正電容值與Q值,并根據(jù)測試值計算出損耗角tanδ與介電常數(shù)ε,。

9.2.4 其他高頻測試儀器按其說明書進(jìn)行操作,,通過測試值計算出損耗角tanδ和介電常數(shù)ε。

 

10,、試驗結(jié)果

10.1 方法A

10.1.1 介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)可在電橋上直接讀數(shù),,按式(1)進(jìn)行計算:

tanδ=2πfR4C4×10-6…………………………(1)

式中:

π——3.14;

f——頻率50Hz,;

R4——固定電阻阻值,,單位為歐姆(Ω);

C4——可變電容值,,單位為微法(μF),;

10.1.2 介電常數(shù)(ε)的計算見表6。

表 6 介電常數(shù)的計算

tanδ

板狀試樣

管狀試樣

≤0.1

…………(2)

…………(3)

>0.1

…………(4)

…………(5)

式中:

d  試樣厚度,,單位為厘米(cm),;

CR  標(biāo)準(zhǔn)電容器電容量,,單位為皮法(pF),,

R4  固定電阻阻值,單位為歐姆(Ω),;

R3  可變電阻阻值,,單位為歐姆(Ω);

S  電極有效面積單位為平方厘米(cm2),;

……………………………(6)

 

L1  管狀試樣測量電極長度,,單位為厘米(cm);

D  測量電極有效直徑,單位為厘米(cm),;

DB  管外徑,,單位為厘米(cm);

DA 管內(nèi)徑,,單位為厘米(cm),;

g  測量電極與環(huán)電極間距,單位為厘米(cm),;

ln  自然對效,;

π  3.14。

 

 

10.2 方法B

10.2.1 電容的計算

10.2.1.1 諧振升高法

應(yīng)用支架電極時按式(7)計算:

Cx=C1-C2+Ca…………………………………(7)

 

應(yīng)用測微電極時按式(8)計算:

Cx=C’1-C’2+Ca……………………………(8)

10.2.1.2 變電納法(配用測微電極):

按式(9),、式(10)計算:

Cx=C1-C2+Ca…………………………………(9)

 

其中:Ca…………………………(10)

 

當(dāng)電極直徑為38mm時,,則Ca=1/d

式中:

Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,單位為皮法(pF),;

C1——電極間距為試樣厚度d,,且無試樣時諧振電容量,單位為皮法(pF),;

C2——有試樣時諧振電容量,,單位為皮法(pF);

C'1——極的校正電容值,,單位為皮法(pF),;

C'——有試樣時,測微電極間距等于試樣厚度時,,測微電極的校正電容值,,單位為皮法(pF);

C——試樣的幾何電容量,,單位為皮法(pF),;

S——電極面積單位為平方厘米(cm2);

d——試樣厚度,,單位為厘米(cm),。

10.2.2 介電常數(shù)ε的計算

按式(11)計算:

………………………(11)

 

式中:

Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,單位為皮法(pF),;

d——試樣的厚度,,單位為厘米(cm);

D——電極的直徑,,單位為厘米(cm),。

10.2.3介質(zhì)損耗角正切tanδ值的計算

10.2.3.1諧振升高法(Q表法)按式(12)計算:

……………………(12)

 

10.2.3.2 變電納法:各種高頻損耗測試儀配用測微電極使用時按式(I3)計算:

………………………(13)

 

式中:

C’——無電極時,諧振回路標(biāo)準(zhǔn)電容器指示值單位為皮法(pF),;

Q1——無試樣時,,電極間距為d時,,諧振Q值;

Q2——電極間有試樣時的諧振Q值,;

△Ci—有試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,,微調(diào)電容變化量,單位為皮法(pF),;

△C0——無試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,,微調(diào)電容變化量,單位為皮法(pF),;

Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,,單位為皮法(pF)。

10.2.4 管狀試樣測試結(jié)果計算

10.2.4.1 試樣電容量按式(14)計算:

Cx=C1-C2…………………………(14)

 

式中:

C1——無試樣時,,諧振電容量,;

C2——有試樣時,諧振電容量,。

10.2.4.2試樣介電常數(shù)按式(15)式(16)計算:

…………………………(15)

 

其中:…………………(16)

 

式中:

L——電極長度,,單位為厘米(cm);

D1,、D2——管外徑和內(nèi)徑,,單位為厘米(cm)。

10.2.4.3 損耗角正切值的計算

與Q表接線柱直接連線時按式(17)計算:

………………………(17)

 

當(dāng)高頻介質(zhì)損耗角測試儀與測微電極連接時按式(l8)計算:

………………………(18)

 

式中:

C1,、Q1——無試樣時,,諧振電容量及Q值;

C2,、Q2——有試樣時,,諧振電容量及Q值;

△Ci——有試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,,微調(diào)電容變化量,,單位為皮法(pF);

△C0——無試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,,微調(diào)電容變化量,,單位為皮法(pF)。

注:不同試驗環(huán)境對試驗結(jié)果的影響因素參見附錄B,。

10.3 試驗結(jié)果以每組試驗結(jié)果的中位數(shù)表示,,取兩位有效數(shù)字。

 

11,、試驗報告

    試驗報告應(yīng)包括以下內(nèi)容:

a) 試樣編號,;

b) 本標(biāo)準(zhǔn)編號或本標(biāo)準(zhǔn)名稱,;

c) 試驗結(jié)果

d) 實驗室溫度,、濕度;

e) 試樣的規(guī)格;

f) 測元件及電極尺寸,;

g) 試樣和測試條件的調(diào)節(jié),;

h) 測量方法和測量電路;

i) 試驗電壓及頻率,;

j) 試驗者,;

k) 試驗日期。

相關(guān)型號

ZJD-A硫化橡膠介電常數(shù)測試儀

ZJD-B硫化橡膠介電常數(shù)測試儀

ZJD-C硫化橡膠介電常數(shù)測定儀




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