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介質(zhì)損耗和介電常數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)

介電特性是電介質(zhì)材料極其重要的性質(zhì),。在實(shí)際應(yīng)用中，電介質(zhì)材料的介電系數(shù)和介質(zhì)損耗是非常重要的參數(shù),。例如,，制造電容器的材料要求介電系數(shù)盡量大，而介質(zhì)損耗盡量小,。相反地,，制造儀表絕緣器件的材料則要求介電系數(shù)和介質(zhì)損耗都盡量小。而在某些特殊情況下,，則要求材料的介質(zhì)損耗較大,。所以，通過(guò)測(cè)定介電常數(shù)(e)及介質(zhì)損耗角正切(tgd),，可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,，為提高材料的性能提供依據(jù)。

一,、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/span>

1,、探討介質(zhì)極化與介電常數(shù)、介質(zhì)損耗的關(guān)系,；

2,、了解高頻Q表的工作原理；

3,、掌握室溫下用高頻Q表測(cè)定材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值,。

二、實(shí)驗(yàn)原理

按照物質(zhì)電結(jié)構(gòu)的觀點(diǎn),，任何物質(zhì)都是由不同的電荷構(gòu)成,，而在電介質(zhì)中存在原子、分子和離子等,。當(dāng)固體電介質(zhì)置于電場(chǎng)中后會(huì)顯示出一定的極性,，這個(gè)過(guò)程稱為極化。對(duì)不同的材料,、溫度和頻率,，各種極化過(guò)程的影響不同。

1,、介電常數(shù)(e)：某一電介質(zhì)(如硅酸鹽,、高分子材料)組成的電容器在一定電壓作用下所得到的電容量C_x與同樣大小的介質(zhì)為真空的電容器的電容量C_o之比值，被稱為該電介質(zhì)材料的相對(duì)介電常數(shù),。

式中：C_x —電容器兩極板充滿介質(zhì)時(shí)的電容,；

Co —電容器兩極板為真空時(shí)的電容；

e —電容量增加的倍數(shù),，即相對(duì)介電常數(shù)

介電常數(shù)的大小表示該介質(zhì)中空間電荷互相作用減弱的程度,。作為高頻絕緣材料,，e要小，特別是用于高壓絕緣時(shí),。在制造高電容器時(shí),，則要求e要大，特別是小型電容器,。

在絕緣技術(shù)中,，特別是選擇絕緣材料或介質(zhì)貯能材料時(shí)，都需要考慮電介質(zhì)的介電常數(shù),。此外,，由于介電常數(shù)取決于極化，而極化又取決于電介質(zhì)的分子結(jié)構(gòu)和分子運(yùn)動(dòng)的形式,。所以,，通過(guò)介電常數(shù)隨電場(chǎng)強(qiáng)度、頻率和溫度變化規(guī)律的研究,，還可以推斷絕緣材料的分子結(jié)構(gòu),。

2．介電損耗(tgd)：指電介質(zhì)材料在外電場(chǎng)作用下發(fā)熱而損耗的那部分能量。在直流電場(chǎng)作用下,，介質(zhì)沒(méi)有周期性損耗,，基本上是穩(wěn)態(tài)電流造成的損耗；在交流電場(chǎng)作用下,，介質(zhì)損耗除了穩(wěn)態(tài)電流損耗外,，還有各種交流損耗。由于電場(chǎng)的頻繁轉(zhuǎn)向,，電介質(zhì)中的損耗要比直流電場(chǎng)作用時(shí)大許多(有時(shí)達(dá)到幾千倍),，因此介質(zhì)損耗通常是指交流損耗。

在工程中,，常將介電損耗用介質(zhì)損耗角正切tgd來(lái)表示,。tgd是絕緣體的無(wú)效消耗的能量對(duì)有效輸入的比例，它表示材料在一周期內(nèi)熱功率損耗與貯存之比,，是衡量材料損耗程度的物理量,。

式中：ω —電源角頻率；

R —并聯(lián)等效交流電阻,；

C —并聯(lián)等效交流電容器

凡是體積電阻率小的，其介電損耗就大,。介質(zhì)損耗對(duì)于用在高壓裝置,、高頻設(shè)備，特別是用在高壓,、高頻等地方的材料和器件具有特別重要的意義,，介質(zhì)損耗過(guò)大,，不僅降低整機(jī)的性能，甚至?xí)斐山^緣材料的熱擊穿,。

3,、Q值：tgd的倒數(shù)稱為品質(zhì)因素，或稱Q值,。Q值大,，介電損失小，說(shuō)明品質(zhì)好,。所以在選用電介質(zhì)前,，必須首先測(cè)定它們的e和tgd。而這兩者的測(cè)定是分不開(kāi)的,。

通常測(cè)量材料介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切的方法有二種：交流電橋法和Q表測(cè)量法,，其中Q表測(cè)量法在測(cè)量時(shí)由于操作與計(jì)算比較簡(jiǎn)便而廣泛采用。本實(shí)驗(yàn)主要采用的是Q表測(cè)量法,。

4,、陶瓷介質(zhì)損耗角正切及介電常數(shù)測(cè)試儀：它由穩(wěn)壓電源、高頻信號(hào)發(fā)生器,、定位電壓表CBl,、Q值電壓表CB2、寬頻低阻分壓器以及標(biāo)準(zhǔn)可調(diào)電容器等組成(圖2),。工作原理如下：高頻信導(dǎo)發(fā)生器的輸出信號(hào),，通過(guò)低阻抗耦合線圈將信號(hào)饋送至寬頻低阻抗分壓器。輸出信號(hào)幅度的調(diào)節(jié)是通過(guò)控制振蕩器的簾柵極電壓來(lái)實(shí)現(xiàn),。當(dāng)調(diào)節(jié)定位電壓表CBl指在定位線上時(shí),，Ri兩端得到約l0mV的電壓(Vi)。當(dāng)Vi調(diào)節(jié)在一定數(shù)值(10mV)后,，可以使測(cè)量Vc的電壓表CB2直接以Q值刻度,，即可直接的讀出Q值，而不必計(jì)算,。另外,，電路中采用寬頻低阻分壓器的原因是：如果直接測(cè)量Vi必須增加大量電子組件才能測(cè)量出高頻低電壓信號(hào)，成本較高,。若使用寬頻低阻分壓器后則可用普通電壓表達(dá)到同樣的目的,。

經(jīng)推導(dǎo)(1) 介電常數(shù)：

(1)

式中：C1—標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下的電容量；

C2—樣品測(cè)試的電容量,；

d—試樣的厚度(cm),；

Φ—試樣的直徑(cm)；

(2) 介質(zhì)損耗角正切：

(2)

式中：Q1—標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下的Q值；

Q2—樣品測(cè)試的Q值,；

(3) Q值：

(3)

三,、實(shí)驗(yàn)儀器及設(shè)備

1、儀器設(shè)備：

(1) Q表測(cè)試儀,、電感箱,、樣品夾具等；

(2) 千分游標(biāo)卡尺,；

2,、樣品要求：圓形片：厚度2±0.5mm，直徑為Φ38±1mm,。

四,、實(shí)驗(yàn)步驟

1、本儀器適用于110V/220V,，50Hz交流電,，使用前要檢查電壓情況，以保證測(cè)試條件的穩(wěn)定,。

2,、開(kāi)機(jī)預(yù)熱15分鐘，使儀器恢復(fù)正常狀態(tài)后才能開(kāi)始測(cè)試,。

3,、按部件標(biāo)準(zhǔn)制備好的測(cè)試樣品，兩面用特種鉛筆或?qū)щ娿y漿涂覆,，使樣品兩面都各自導(dǎo)電,，但南面之間不能導(dǎo)通，備用,。

4,、選擇適當(dāng)?shù)妮o助線圈插入電感接線柱。根據(jù)需要選擇振蕩器頻率,，調(diào)節(jié)測(cè)試電路電容器使電路諧振,。假定諧振時(shí)電容為C1，品質(zhì)因素為Q1,。

5,、將被測(cè)樣品接在Cx接線柱上。

6,、再調(diào)節(jié)測(cè)試電路電容器使電路諧振,，這時(shí)電容為C2，可以直接讀出Q2,。

7,、用游標(biāo)卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d(分別在不同位置測(cè)得兩個(gè)數(shù)據(jù)，再取其平均值)。