溫度沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)主要是針對(duì)于電子產(chǎn)品、電工,，以及其原器件,，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸,、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),。
 

 　 溫度冷熱沖擊而引起的失效現(xiàn)象為了保證電子產(chǎn)品具有更高的可靠性水平，隨著產(chǎn)品耐濕性能的提高,，除了相對(duì)固定式的溫度濕度試驗(yàn)外,，對(duì)溫度冷熱沖擊試驗(yàn)的要求也越來(lái)越多，具體表現(xiàn)在：

1,、由于產(chǎn)品精度的要求,，元器件連續(xù)地受到更大的熱應(yīng)力影響?！　?br style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box !important; overflow-wrap: break-word !important;"/>2,、整機(jī)的小型化使得元器件更加容易受熱。
3,、可靠性要求及水平越來(lái)越高。

4,、加工過程中元器件可能會(huì)受到嚴(yán)重的熱應(yīng)力影響,，例如：當(dāng)采用焊錫焊接時(shí)。
5,、隨著便攜式電子產(chǎn)品的普及,，產(chǎn)品使用環(huán)境變得更加復(fù)雜、苛刻,。
6,、為了減少成本，采用新材料,，新工藝,。 
冷熱溫度沖擊不同于普通濕熱環(huán)境，它是通過冷熱溫度沖擊來(lái)發(fā)現(xiàn)常溫狀態(tài)下難以發(fā)現(xiàn)的潛在故障問題。決定冷熱溫度沖擊試驗(yàn)的只要因素有:試驗(yàn)溫度范圍,、暴露時(shí)間,、循環(huán)次數(shù)、試驗(yàn)樣品重量及熱負(fù)荷等,。