日本電子掃描電鏡（Scanning Electronic Microscopy,SEM）介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像,。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是，①有較高的放大倍數(shù),，20-20萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào),；②有很大的景深，視野大,，成像富有立體感,，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；③試樣制備簡(jiǎn)單,。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析,，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。
日本電子掃描電鏡由電子光學(xué)系統(tǒng),，信號(hào)收集及顯示系統(tǒng),，真空系統(tǒng)及電源系統(tǒng)組成。
電子光學(xué)系統(tǒng)由電子槍,，電磁透鏡,，掃描線圈和樣品室等部件組成。其作用是用來(lái)獲得掃描電子束,，作為產(chǎn)生物理信號(hào)的激發(fā)源,。為了獲得較高的信號(hào)強(qiáng)度和圖像分辨率，掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑,。
信號(hào)檢測(cè)放大系統(tǒng)其作用是檢測(cè)樣品在入射電子作用下產(chǎn)生的物理信號(hào),，然后經(jīng)視頻放大作為顯像系統(tǒng)的調(diào)制信號(hào)。不同的物理信號(hào)需要不同類型的檢測(cè)系統(tǒng),，大致可分為三類：電子檢測(cè)器,，應(yīng)急熒光檢測(cè)器和X射線檢測(cè)器。在掃描電子顯微鏡中普遍使用的是電子檢測(cè)器,，它由閃爍體,，光導(dǎo)管和光電倍增器所組成當(dāng)信號(hào)電子進(jìn)入閃爍體時(shí)將引起電離；當(dāng)離子與自由電子復(fù)合時(shí)產(chǎn)生可見(jiàn)光,。光子沿著沒(méi)有吸收的光導(dǎo)管傳送到光電倍增器進(jìn)行放大并轉(zhuǎn)變成電流信號(hào)輸出,，電流信號(hào)經(jīng)視頻放大器放大后就成為調(diào)制信號(hào)。這種檢測(cè)系統(tǒng)的特點(diǎn)是在很寬的信號(hào)范圍內(nèi)具有正比與原始信號(hào)的輸出,，具有很寬的頻帶（10Hz-1MHz）和高的增益(105-106),而且噪音很小,。
真空系統(tǒng)的作用是為保證電子光學(xué)系統(tǒng)正常工作，防止樣品污染提供高的真空度,，一般情況下要求保持10-4-10-5mmHg的真空度,。電源系統(tǒng)由穩(wěn)壓，穩(wěn)流及相應(yīng)的安全保護(hù)電路所組成,，其作用是提供掃描電鏡各部分所需的電源,。
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