磁粉探傷靈敏度試片A1,、C型、D型,、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設備,、磁粉和磁懸液的綜合性能，顯示被檢 工件表面具有足夠的有效磁場強度和方向,、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確,。

A型靈敏度試片

產(chǎn)品詳情：

A型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中,，對幾何形狀復雜,，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢查探傷設備,，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中,，可以避免漏檢,，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量,。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具,。

特點如下：

試片用于磁粉顯示，圖像直觀,，使用簡便,，對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復雜的零件時,，表現(xiàn)其*的優(yōu)點,。

性能規(guī)格：

本套試片包括:7/50、 15/50,、 30/50,、15/100、 30/100,、 60/100各 1 片,共六片,。

試片=1（um）適用于高靈敏度探傷，規(guī)格為（11-12）D;=2（um）適用于中靈敏度探傷,，為（8-9）D,；=3（um）適用于低靈敏度探傷，規(guī)格為（5-6）D,。括號中分子為槽深,，分母為試片厚度，單位為um(微米)，D為工件直徑,。

C型靈敏度試片

產(chǎn)品詳情：

C型靈敏度試片最先由日本無損檢測學會提出,，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷,，在檢查中,，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工作,，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能,，在磁粉探傷操作過程中,，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者常備的調(diào)試工具,。

特點如下：

C型標準試片，它分為C1型和C2型,，它可以在任何幾何形狀復雜的工件上探傷，尤其在焊縫的坡口面上及狹小部分,，更能顯示它的優(yōu)點,。C型標準試片相當于A型試片中2#試片的靈敏度等同，它的磁化規(guī)范相當于8-10D,，并可用作鑒定探傷設備,、磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷過程中,，可以避免誤判或漏檢,。C型標準靈敏度試片,是磁粉探傷工作者常備的調(diào)試工具。

性能規(guī)格：

本套試片包括:C1: 8/50u  C2:15/50u  共六片,，分兩組不同規(guī)格的試片組成,。

D型靈敏度試片

產(chǎn)品詳情：

D型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中,，對幾何形狀復雜,，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢查探傷設備,，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中,，可以避免漏檢,，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量。

性能規(guī)格：

本套試片包括 7/50,、 15/50,、 30/50  各 2 片共六片。

試片D-7/50適用于高靈敏度探傷,，規(guī)格為( 11-12)D: D-15/50適用于中靈敏度探傷,，為( 8-9) D:D-30/50適于用低靈敏度探傷,規(guī)格為(5-6)D。

M1型靈敏度試片

產(chǎn)品詳情：

M1型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷,，在檢查中,，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工件,，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能,，在磁粉探傷操作過程中,，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量,。

性能規(guī)格：

每片上含 7/50（外圈￠ 12）、15/50（中圈￠ 9） ,、 30/50（內(nèi)圈￠ 6） 三種靈敏度
每套 2 片

試片外圈（7/50)u適用于高靈敏度探傷,，規(guī)格為（ 11-12)D:中圈(15/50 ) u適用于中靈敏度探傷，為( 8-9)D:內(nèi)圈(30/50) u適用于低靈敏度探傷,規(guī)格為(5-6）D.

使用方法：

選適當靈敏度的試片,，將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上（膠帶紙貼于試片兩邊緣,，不要影響試片背面的刻槽部位）。

進行外加懸場法,，對工件進行磁化,，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界,，既是磁化電流）,。

上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片,，即可清楚顯示磁痕,。

注意事項：

1. 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,，在用膠帶紙緊密地貼在工件上,。

2. 試片用后請涂防銹油。

3. 試片有褶皺不平或破裂,，會影響探傷靈敏度,，不宜繼續(xù)使用。