ASME標準試片CX4-230 CX4-430磁粉探傷標準試片

CX4-230 CX4-430磁粉探傷標準試片屬于美標ASME標準試片,，試片用于磁粉探傷時對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工件檢驗時,，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢驗探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能,，在磁粉探傷過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需要的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量,是磁粉探傷的調(diào)試工具,。

ASME標準磁粉試片

CX4-230 靈敏度試片

CX4-430 靈敏度試片

CX-230   靈敏度試片

CX-430   靈敏度試片

使用方法：

選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上（膠帶紙貼于試片兩邊緣,，不要影響試片背面的刻槽部位）。

進行外加懸場法,，對工件進行磁化,，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界,，既是磁化電流）,。

上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片,，即可清楚顯示磁痕,。

注意事項：

1. 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，在用膠帶紙緊密地貼在工件上,。

2. 試片用后請涂防銹油,。

3. 試片有褶皺不平或破裂，會影響探傷靈敏度,，不宜繼續(xù)使用,。