德國菲希爾FISCHER產(chǎn)品介紹及選型指南 

        德國FISCHER的產(chǎn)品主要都產(chǎn)自于內(nèi)部生產(chǎn)線，我們相信只有這樣才能生產(chǎn)出滿足客戶期望的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品,。FISCHER擁有現(xiàn)代化的高科技生產(chǎn)設備,，即使是最小的細節(jié)都會受到密切的注意,，以此保證了產(chǎn)品始終如一的超高品質(zhì),。

       從1953年起，F(xiàn)ISCHER就致力于在鍍層厚度,、材料分析,、納米壓痕和材料測試領域研究及開發(fā)不斷創(chuàng)新、的通用測試技術,。時至今日,，F(xiàn)ISCHER儀器以其測量準確、精度高,、穩(wěn)定性好等特點為全球用戶推崇和使用,。

FISCHER儀器可以滿足不同行業(yè)中大多數(shù)的測量和分析需求。為了取得測量準確度和精確性,，在面對不同的測量需求時應選用相對應的測量方法：無論是磁感應法,、電渦流法、庫侖法,、納米壓痕法還是X射線熒光法,，F(xiàn)ISCHER總能為您提供最合適的測試技術。

       德國菲希爾FISCHER涂鍍層厚度測量和材料分析

小巧,、便攜,、耐用：FISCHER公司推出的MP0和MP0R系列無損測厚儀可以快速、精確地測量涂鍍層的厚度,，滿足客戶對于FISCHER一貫的精度等級的期待,。它裝有兩塊背光式LCD顯示屏和高耐磨探頭，再配合其輕巧的外形,，是您現(xiàn)場測量的選擇,。樣品的幾何特性和磁導率對測量的影響非常小,。另外，儀器還采用了的非磁性基材電導率補償技術,，即使是面對超薄的鍍層,，無論樣品表面光滑還是粗糙，它都能精確地測量,。儀器采用磁感應法(PERMASCOPE儀器只能在鐵磁性基材上使用),；電渦流法(ISOSCOPE可以在非鐵磁性材料上使用)以及集成兩種方法于一體的兩用法(DUALSCOPE)：DUALSCOPE儀器可以自動識別鋁基材和鐵基材并選擇相應的方法進行測量,。

DUALSCOPE MP0 帶有一個集成探頭,，適用于測量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度。

DUALSCOPE MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個集成探頭或一個延長型探頭,，適用于測量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度,。

       DMP10/20/30/40系列是適用于許多行業(yè)，堅固又時尚的手持式測量設備,，幾乎能夠滿足任何測量要求,。得益于可更換的探頭，使它們在無損涂層厚度測量方面非常靈活,，是質(zhì)量控制的理想選擇,。儀器的模塊化設計能夠針對相應的測量任務組成適合的測量系統(tǒng)。除了配備不同的儀器外,，還提供多種高精度探頭選擇,。此外，每臺DMP都配備了直觀的Tactile Suite軟件,，可實現(xiàn)簡單的數(shù)據(jù)傳輸,、廣泛的評估選項和方便的數(shù)據(jù)導出。所有DMP儀器都具有堅固的全鋁制外殼,，大猩猩玻璃顯示屏,，IP64防護等級，通過燈光和聲音進行實時反饋以進行上下限監(jiān)控,，通過USB-C進行數(shù)據(jù)傳輸,，以及可更換和快速充電的電池。

您可以從以下型號中進行選擇：

- DELTASCOPE DMP10 和 DMP30 使用磁感應法,，適用于測量鐵基體上的非磁性涂層厚度,。

- ISOSCOPE DMP10 和 DMP30 使用渦流法，適用于測量非鐵磁金屬基材上的非導電涂層厚度,。

- DUALSCOPE DMP20 和 DMP40 可使用磁感應法或渦流法,，適用于測量幾乎所有金屬基材上的涂層厚度。

DUALSCOPE FMP100 是一款功能強大,、界面友好的涂鍍層測厚儀,，可以滿足眾多不同的測量需求,。它集成了磁感應法和電渦流法于一體并可裝配各種不同的高精度探頭，即使在不斷變化的測量條件下,，它都能很好的完成各種測量任務,。它采用的Windows™ CE操作系統(tǒng)，擁有圖形用戶界面和高分辨率的觸摸顯示屏,，并配備了可以儲存幾千個測量程式的存儲空間和眾多的統(tǒng)計計算功能,，使其成為專業(yè)涂鍍層測試領域的解決方案。無論是用于汽車業(yè),、電鍍業(yè),、陽極氧化應用、防腐層耐用性測試還是精細涂層領域,，在所有情況下,，這款儀器一定會為您提供 高的準確度和精確性。DUALSCOPE H FMP150 進一步配備了第三種測量原理,，即磁性法,。它除了采用磁感應法和電渦流法測量涂鍍層厚度外，還可以測量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度,。使用可選配的檢測計劃軟件FISCHER DataCenter 

IP,，使我們在電腦上就能建立單獨的檢測計劃并傳輸?shù)綔y量儀器上。操作人員就能根據(jù)儀器上所顯示的圖片,、草圖,、技術圖紙以及檢測計劃的流程一步步地進行測量。一旦數(shù)據(jù)采集的步驟完成,，測量數(shù)據(jù)就會被傳回電腦進行整理和計算,，從而為儀器的下一次測量做好準備。這樣,，原本設計緊湊,、使用方便的FMP100和FMP150型測厚儀就可變身為功能強大的多功能數(shù)據(jù)終端了。

FERITSCOPE DMP30鐵素體檢測儀在奧氏體鋼或雙相鋼必須承受高溫,、侵蝕性物質(zhì)和高壓的外部環(huán)境時,，鐵素體含量起著至關重要的作用。尤其是需要在化工廠,、能源設施和加工工廠的現(xiàn)場測量時,，F(xiàn)ISCHER手持設備的優(yōu)勢變得非常明顯。FERITSCOPE DMP30提供了一系列可供選擇的探頭,，即使是一些通常難以觸及的區(qū)域,，您也可以使用這些特制的探頭可靠地確定鐵素體含量。

SIGMASCOPE SMP350電導率測試儀一款采用渦流法測量非鐵金屬或非磁性金屬如鋁,，銅和不銹鋼等的電導率的儀器,。此外,，基于測量電導率，還可得出關于硬度和熱處理的材

料強度方面的結論,。也可以確定熱損傷和材料疲勞,。

PHASCOPE PMP10涂鍍層測厚儀主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進行質(zhì)量控制。無論樣品表面是否平滑,，PMP10都可以精確測量鐵基材上的鍍鎳層,、鍍銅層和鍍鋅層的厚度；它還能對印制電路板上的銅層厚度,，甚至是孔內(nèi)銅層的厚度進行測量,。

PMP10 Duplex型儀器是專為汽車行業(yè)測量雙鍍層而開發(fā)的(例如：油漆/Zn/Fe)：通過一次測量就能同時獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度。它還可以測量鋁材上油漆層的厚度,。

COULOSCOPE CMS2型儀器可以快速,、精確地測量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度,，甚至是多鍍層的厚度,。它的測量是一個通過庫侖法進行反電鍍的過程。儀器采用了菜單式界面,、操作簡便,，是對電鍍產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控和來料檢驗的理想選擇。

FISCHERSCOPE MMS PC2帶內(nèi)置Windows™ CE操作系統(tǒng)和網(wǎng)絡互聯(lián)功能的臺式多功能測量系統(tǒng),，尤其適合于無損,，高精度的鍍層厚度測量及材料測試。操作MMS PC2可以使用大尺寸且高分辨率的彩

色觸摸屏,，或是鍵盤和鼠標,。帶有LAN和USB接口，可集成于自動生產(chǎn)線中,。此外,，可以同時使用最多8個探頭進行測量。MMS PC2的模塊化設計,，允許對儀器按客戶的要求進行配備,，并可以在需要的時候配備其它的模塊和探頭進行升級改進。根據(jù)需求可以在儀器上采用不同的測量方法,，如電渦流法,、磁性法、磁感應法或電阻法等,。能測量金屬上幾乎所有材料的鍍層厚度,，以及非導電材料上的金屬鍍層厚

度。它還可以用來測定非鐵磁性金屬的電導率和測量奧氏體或雙相鋼材中的鐵素體含量,。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN界面友好的XAN型儀器十分適用于生產(chǎn)業(yè)務和研發(fā)領域中的材料分析測試,。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM XUL系列型號的X射線熒光光譜儀,，設計緊湊，用于測量鍍層厚度和分析材料,。X射線源和探測器位于測量室的下方,，樣品可以直接放置在測量臺上輕松定位。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 和 XDLMXDL系列儀器配備了比例計數(shù)管探測器,，適用于質(zhì)量控制,，來料檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控。由于它測量空間大,，故而適合測量有復雜幾何形狀的大尺寸樣品,。XDL系列不僅可以配備簡單樣品平臺，還可以配置不同的XY工作臺和Z軸,。因而可用于自動化批量測試,。

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL配備硅PIN探測器及微距焦X射線管的XDAL型儀器即使在含量很小和鍍層很薄的情況下，也可以提供可靠的分析結果,。它適用于來料檢驗,，生產(chǎn)監(jiān)控及研發(fā)領域。XDAL配備有可切換準直器,、基本慮片及快速可編程XY平臺,。因而可以在運行過程中自動對準測量位置，自動完成不同批次的測量,。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDDXDV-SDD型儀器是為了滿足鍍層厚度測量和材料分析領域的 要求而專門設計的,。在配備了新的硅漂移探測器后，特別適合于無損測量低至納米級厚度的鍍層以及精確分析微量元素,。它是檢測線路板和電子元器件中RoHS和WEEE指令符合性的理想選擇,，還適合于測量復雜的多鍍層系統(tǒng)，以及電子半導體工業(yè)中的電鍍或蒸鍍鍍層,?；瘜W鎳中的磷含量也可以由XDV-SDD精確測量。