紅外熱像儀和紫外成像儀的區(qū)別

紅外熱像儀是對溫度進(jìn)行的一種監(jiān)測,。鏡頭捕獲來自任何物體的紅外能量,，并通過數(shù)字處理可視化溫度狀態(tài),。由于各種物體在產(chǎn)生熱量的同時發(fā)射紅外光,，因此通過圖像處理紅外能量，可以可視化溫差,。這種可視化的紅外圖像稱為紅外熱成像,。

紫外成像儀是檢測紫外輻射，電暈放電是一種局部化的放電現(xiàn)象,， 當(dāng)帶電體的局部電壓應(yīng)力超過臨界值時,，會使空氣游離而產(chǎn)生電暈放電現(xiàn)象。特別是高壓電力設(shè)備，其常因設(shè)計,、制造,、安裝及維護(hù)工作不良產(chǎn)生電暈、閃絡(luò)或電弧,。在放電過程中,，空氣中的電子不斷獲得和釋放能量，而當(dāng)電子釋放能量（即放電）,，便會放出紫外線,。

紅外熱像儀（IR）：檢測光譜范圍在8-14微米，檢測來自電氣故障引起的熱輻射,，電流炙熱性型的缺陷,。例如：電阻型發(fā)熱缺陷，壓接接觸不好,，內(nèi)部缺陷,，破損等。

紫外成像儀(UV)：檢測光譜方位在240-280nm,，檢測電壓強度異常引起的紫外輻射,，電暈放電型缺陷。例如：污穢,、破損,、松弛、jian端,、安裝不當(dāng),、缺失、零值低值等,。

目前,，可用于診斷目的的放電過程的各種方法中，光學(xué)方法的靈敏度,、分辨率和抗干擾能力最好,。即采用高靈敏度的紫外線輻射接受器，記錄電暈和表面放電過程中輻射的紫外線,，再加以處理、分析達(dá)到評價設(shè)備狀況的目的,。電暈放電過程引起微小的熱量,，通常紅外檢測不能發(fā)現(xiàn)。紅外檢測通常是在高電阻處產(chǎn)生熱點,。紫外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紅外成像儀不能看到,，而紅外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紫外成像儀不能看到。因此 UV 檢測和紅外成像是一種互補性而非沖突性技術(shù)。