超聲掃描顯微鏡是屬于無損檢測設(shè)備,，我們常見的無損檢測設(shè)備掃描方式有A掃,、B掃,、C掃三種,，它們分別代表什么掃描方式,，今天我們簡單概述下，A掃描來源于英文單詞Amplitude，即幅值的意思,，也即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離,，縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。

基于A掃的缺陷判定方式,，當(dāng)在一個(gè)鋼工件中存在一個(gè)缺陷,，由于這個(gè)缺陷的存在，造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個(gè)不同介質(zhì)之間的交界面,，交界面之間的聲阻抗不同,，當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個(gè)界面之后，就會(huì)發(fā)生反射,反射回來的能量又被探頭接受到,，在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會(huì)顯示出來一個(gè)反射波的波形,，橫坐標(biāo)的這個(gè)位置就是缺陷在被檢測材料中的深度。這個(gè)反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同,，反映了缺陷的性質(zhì),。

B掃描來源于英文單詞birightness，亮度的意思,，掃描圖像以二維圖像顯示,，屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測量表面垂直的剖面。其亮度信息,，則是通過計(jì)算反射回來的超聲波的強(qiáng)弱來確定,。

C掃描來源于英文Constant depth，意思是恒定的深度,，是對(duì)某一深度的截面進(jìn)行掃描,，是二維平面內(nèi)移動(dòng)并選取A掃描特定深度的點(diǎn)的信號(hào)成像，顯示的是水平截面的缺陷信息,。

A掃描,、B掃描、C掃描總結(jié)概述：

1,、A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離,，縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。
在一個(gè)鋼工件中存在一個(gè)缺陷,，由于這個(gè)缺陷的存在,，造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個(gè)不同介質(zhì)之間的交界面，交界面之間的聲阻抗不同,，當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個(gè)界面之后,，就會(huì)發(fā)生反射,反射回來的能量又被探頭接受到，在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會(huì)顯示出來一個(gè)反射波的波形,，橫坐標(biāo)的這個(gè)位置就是缺陷在被檢測材料中的深度,。這個(gè)反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同,，反映了缺陷的性質(zhì)。

2,、B掃描方式在掃描圖像以二維圖像顯示,，屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測量表面垂直的剖面。

3,、C掃描就是三維成像掃描,，掃描結(jié)果為工件的橫斷面。