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雙晶片直探頭檢驗(yàn)用對(duì)比試塊
一,、雙晶探頭的結(jié)構(gòu)和工作原理
1,、一般來講,一個(gè)探頭殼體內(nèi)裝有兩個(gè)晶片的探頭我們稱之為雙晶探頭,,又稱分割式探頭,。由兩個(gè)縱波晶片組合成的雙晶探頭稱為縱波雙晶探頭,又稱雙晶直探頭,;由兩個(gè)橫波晶片組成的雙晶探頭稱為橫波雙晶探頭,,又稱雙晶斜探頭。
2,、這兩種雙晶探頭中,,雙晶直探頭的應(yīng)用較為廣泛,以下以雙晶直探頭為例重點(diǎn)探討雙晶直探頭的結(jié)構(gòu)和工作原理:
雙晶直探頭的兩個(gè)縱波晶片一個(gè)用于發(fā)射超聲,,一個(gè)用于接收超聲,。發(fā)射壓電晶片大都采用發(fā)射性能好的鋯鈦酸鉛,接收壓電晶片大都采用接收性能好的硫酸 鋰,。區(qū)別于單晶探頭而言,,雙晶探頭的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度都更高。雙晶探頭的兩個(gè)晶片之間有一片吸聲性強(qiáng),、絕緣性好的隔聲層,,它不僅用于克服發(fā)射聲束與 反射聲束的相互干擾和阻塞,而且能使脈沖變窄,、分辨率提高,、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進(jìn)入接收晶片,有效減少雜波,。
3,、雙晶探頭存在一定的檢測(cè)盲區(qū),,使用對(duì)比試塊知道探頭可探測(cè)最淺的平底孔深度,那盲區(qū)的問題是否只能最小化,,而無辦法避免,。因?yàn)殡p晶探頭的特性,制作DAC曲線時(shí),,是采用三點(diǎn)(記得看到過,,但是暫時(shí)沒有探頭,無法實(shí)驗(yàn)),,還是挨個(gè)平底孔標(biāo)記做曲線,。
4、由于探頭晶片與探測(cè)面成一定角度,,所以在直徑大于200mm的厚,、薄管件表面是否可用作軸,,周兩個(gè)方向的掃查,,還是軸向用斜探頭比較好一點(diǎn)。
5,、探頭F的選擇為板厚T的一半或稍多一點(diǎn)是否合適,。
6、在管材,、鍛筒件檢測(cè)中,,雙晶斜探頭的F該如何選擇,是否以探頭K值對(duì)應(yīng)的聲程來確定,,其靈敏度調(diào)節(jié)沒有找到標(biāo)準(zhǔn)是說的比較明白的,,好像是說,比噪聲信號(hào)比大1-3MM什么的,,不明白,。還是也用平底孔對(duì)比試塊做曲線。
雙晶斜探頭是否只能接收菱形區(qū)內(nèi)的缺陷信號(hào),,二次波的就接收不到了,,也就是說外表面的缺陷就檢測(cè)不到了。
二,、另外,,鍛筒件軸向掃查時(shí),可以用與工件軸向平行的平底孔做DAC曲線嗎,?讓孔與探頭掃查方向平行(筒件)
超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊雙晶片直探頭檢驗(yàn)用對(duì)比試塊
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