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日本標(biāo)準(zhǔn)試塊超聲波探傷試塊
1. 標(biāo)準(zhǔn)試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊簡稱STB試塊,通常由國際有關(guān)組織,,國家和工業(yè)部的技術(shù)部門、標(biāo)準(zhǔn)化組織推薦,、確定和通過使用的,。它們可作為探傷儀、探頭性能的測定,;探傷靈敏度和時間軸比例等的調(diào)整,,以及缺陷尺寸的評價。但某一種試塊不一定都具備這些功能,,而是隨應(yīng)用對象不同而有所側(cè)重,,它們常常在使用目的相同的檢查之間通用,其材質(zhì),、形狀,、尺寸及使用性能也均已達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn)化程度。例如,,國際上通用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有IIW試塊,、IIW2試塊等,我國的CS–1,,CS–2,,CSK–IA,CSK–IB,,CSK–IC(如圖2–34),,日本的STB–G系列試塊,美國的ASTM和ASME的標(biāo)準(zhǔn)試塊,,英國的BS–A2,,BS–A4試塊,西德DIN54120中的1#試塊等等均屬此列,,其中有些試塊可用于制作距離–波幅曲線或面積–波幅曲線,。
標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊通常是由機(jī)構(gòu)制定的試塊,其特性與制作要求有專門的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,。 標(biāo)準(zhǔn)試塊通常具有規(guī)定的材質(zhì),、形狀、尺寸及表面狀態(tài),。 標(biāo)準(zhǔn)試塊用于儀器探頭系統(tǒng)性能測試校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn),,
型號:JIS-STB-A1、JIS-STB-A2,、JIS-STB-A3,、JIS-STB-G,、STB-A21、STB-A22,、JIS-STB-A1(與IW試塊相同)
JIS-STB-A2(用單探頭或雙探頭法進(jìn)行斜角探傷時,,用于探傷靈敏度的調(diào)整或表示。也可用于探傷儀的綜合分辨力的測定和表示),。
JIS-STB-A3(作為A1和A2試塊現(xiàn)場用的輔助標(biāo)準(zhǔn)試塊,,可用于入射點(diǎn)的確定、時間軸的調(diào)整,、時間軸原點(diǎn)的修正,、折射角和探傷靈敏度的確定)
JIS-STB-G(用于各種調(diào)整, min探傷距離的檢定等)。
V2~V8都加工有∮2平底孔,,和V15-2-樣用于2~15mm探傷距離下的靈敏度特性試驗(yàn),反射脈沖高度在規(guī)定值t1db以內(nèi),。V15-1~V15-5.6鉆有p1.0~∮5.6mm平底孔,,相鄰孔底的西積比依次為2倍。即用于探傷靈敏度的調(diào)整,。
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