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便攜式相控陣試塊是國際標準試塊：

A型便攜式相控陣試塊,，B型便攜式相控陣試塊是國際標準試塊，符合ASTM E 2491-08標準

一,、相控陣探頭晶片靈敏度差異與有效性測試

1,、一般要求：該項測試要求儀器軟件能夠?qū)ο嗫仃囂筋^的每個晶片進行逐一激發(fā)。

2,、測試方法：

2.1將相控陣探頭均勻穩(wěn)定地耦合在角度增益修正試塊(或等效試塊)表面,，單獨激發(fā)一個晶片，得到高反射回波,。

2.2調(diào)節(jié)增益值使晶片回波達到80%滿屏高度,，記錄此時的增益值。

2.3單獨激發(fā)下一個晶片,，并重復(fù)B22,，直至last個晶片(沿著陣列中所有陣元一次一個陣元步進)。

3,、判斷：如出現(xiàn)以下情況,，認定為晶片為壞晶片:

a) 未見底面回波信號的晶片;

b) 有底面回波信號但信噪比小于12dB的晶片:

c）同一陣列中靈敏度明顯偏低，比其他晶片的平均靈敏度低9dB以上的晶片,。

B.4對測試結(jié)果進行復(fù)核

二,、背景技術(shù)：護環(huán)是發(fā)電機的重要組成部分，是發(fā)電機中承受應(yīng)力最高的部件之一,，是用以固定和保護纏繞在發(fā)電機轉(zhuǎn)子兩端線圈的大型鋼環(huán),。護環(huán)材料多采用奧氏體無磁鋼整體鍛造而成。處于運行工況中的發(fā)電機護環(huán),，不僅承受旋轉(zhuǎn)應(yīng)力,、離心力、配合應(yīng)力等應(yīng)力作用,，還伴隨著應(yīng)力腐蝕及電燒傷等因素,，因此護環(huán)的嵌裝面、緊力面r角部位極易誘發(fā)裂紋類缺陷,，如不能及時檢測出缺陷的存在,，將危及設(shè)備的安全運行。相控陣超聲縱波檢測與常規(guī)a型脈沖超聲波檢測相比,，具有多種顯示模式,，聲束角度范圍大且能聚焦到重點檢測部位，檢測圖譜可存儲等優(yōu)點,，在復(fù)雜缺陷的判斷等方面具有顯著技術(shù)優(yōu)勢,。但現(xiàn)在沒有專門的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,。因此開發(fā)一種發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊，可有助于大幅提高發(fā)電機護環(huán)裂紋相控陣超聲檢測的準確性和可靠性,。

三,、技術(shù)實現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，提供了一種發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,，該試塊能夠有助于提高發(fā)電機護環(huán)裂紋相控陣超聲檢測的準確性及可靠性,。為達到上述目的，本發(fā)明所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊包括奧氏體無磁鋼塊,。

四,、具體應(yīng)用過程為：

1)將相控陣探頭9與相控陣超聲檢測儀8相連接；

2)將相控陣探頭9放置于本發(fā)明上,，并使得相控陣探頭9依次對準第一橫通孔2,、第二橫通孔3、第三橫通孔4,、第四橫通孔5及第五橫通孔6,，然后微調(diào)相控陣探頭9的位置,，使橫通孔的超聲反射波幅最大,，同時調(diào)節(jié)增益，使得該超聲反射波幅為滿屏刻度的80％,，使不同深度,、不同角度下φ1mm橫通孔反射回波波幅均達到滿屏的80％，以繪制時間增益修正曲線,；

3)分別確定超聲縱波檢測和超聲橫波檢測時的檢測靈敏度及判廢線,；

4)通過相控陣探頭9對待檢測發(fā)電機護環(huán)7進行檢測，并將檢測的結(jié)果與時間增益修正曲線進行比較,，并根據(jù)比較結(jié)果依據(jù)掃查靈敏度及判廢線判斷缺陷的程度,，即根據(jù)檢測結(jié)果獲取當前缺陷對應(yīng)的反射波幅，并根據(jù)所述反射波幅判斷缺陷的程度,。

五,、技術(shù)特征：

1.一種發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊，其特征在于,，包括奧氏體無磁鋼塊(1),，奧氏體無磁鋼(1)上設(shè)置有第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3),、第三橫通孔(4),、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)，其中,，第一橫通孔(2),、第二橫通孔(3),、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)自上到下依次分布,，且第一橫通孔(2),、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4),、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)在垂直方向上等間距分布,，第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3),、第三橫通孔(4),、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)在水平向上等間距且依次分布。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,，其特征在于,，第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3),、第三橫通孔(4),、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)與奧氏體無磁鋼塊(1)端部之間的距離不同。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,，其特征在于,，奧氏體無磁鋼塊(1)的長度、寬度及高度分別為300mm,、40mm及120mm,。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊，其特征在于,，第一橫通孔(2),、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4),、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)的孔徑均為1mm,。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊，其特征在于,，第一橫通孔(2),、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4),、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)的長度均為40mm,。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊，其特征在于,，奧氏體無磁鋼塊(1)的端面與第一橫通孔(2),、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4),、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)之間在垂直方向的距離分別為60mm,、70mm,、80mm、90mm及100mm,。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,，其特征在于，奧氏體無磁鋼塊(1)的端面與第一橫通孔(2),、第二橫通孔(3),、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)之間在水平方向的距離分別為50mm,、100mm,、150mm、200mm及250mm,。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,，其特征在于，奧氏體無磁鋼塊(1)的材質(zhì)為mn18cr18n系或mn18cr5系,。

便攜式相控陣試塊是國際標準試塊