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當(dāng)前位置:啟航檢測科技(上海)有限公司>>無損檢測設(shè)備>>單晶探頭>> MWB45-4貝克休斯MWB45-4斜探頭
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所 在 地上海市
更新時間:2025-02-18 14:17:37瀏覽次數(shù):196次
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件,綜合 |
MWB45-4貝克休斯MWB45-4斜探頭|美國GE雙晶探頭|啟航檢測科技(上海)有限公司全國*
SWB70-2美國GE/SWB70-2斜探頭|貝克休斯SWB70-2斜探頭由啟航檢測科技(上海)有限公司優(yōu)惠價供應(yīng)美國GE/SWB70-2斜探頭
用于大尺寸,、厚部件的焊縫檢測,,如管,、儲罐,、壓力容器,、輪軸,、鍛件,、鑄件、橋梁及其他結(jié)構(gòu)件,、鐵路路軌及車輪
SWB,、SWK型探頭尺寸適合手工檢測,,有良好的近場分辨力和窄脈沖寬度,是檢測小部件通用工具,,也能夠檢測大尺寸物體
SWB系列:
晶片尺寸:14mmX14mm帶寬:30-60接口類型:Lemo 01
角度 | 1MHz | 2MHz | 4MHz |
35° | SWB35-1 | SWB35-2 | SWB35-5 |
35° | SWB35-O2 | ||
45° | SWB45-1 | SWB45-2 | SWB45-5 |
45° | SWB45-O2 | SWB45-O5 | |
60° | SWB45-2-EN | ||
60° | SWB60-1 | SWB60-2 | SWB60-5 |
70° | SWB60-O2 | SWB60-O5 | |
70° | SWB60-2-EN | ||
80° | SWB70-2 | SWB70-5 | |
90° | SWB70-O2 | ||
35° | SWB70-2-EN | ||
45° | SWB80-1 | SWB80-2 | SWB80-5 |
SWB90-1 |
晶片尺寸:14mmX14mm帶寬:60-80接口類型:
角度 | 1MHz | 2MHz | 5MHz |
35° | SWK70-1 | SWK35-2 | |
45° | - | SWK45-2 | SWK45-5 |
60° | - | SWK60-2 | SWK60-5 |
70° | - | SWK70-2 | SWK |
型號說明:
-EN表示探頭有DINEN12668-2證書,,如WB35-2-EN。
MWB90-O4
2MHz | 35 | MWB35-4 |
MWB35-2-EN | 35 | MWB35-O4 |
MWB35-O2-EN | 45 | MWB45-4 |
MWB45-2-EN | 45 | MWB45-O4 |
MWB45-O2-EN | 60 | MWB60-4 |
MWB60-2-EN | 60 | MWB60-O4 |
MWB60-O2-EN | 70 | MWB70-4 |
MWB70-2-EN | 70 | MWB70-O4 |
MWB70-O2-EN | 80 | MWB80-4 |
80 | MWB80-O4 | |
90 | MWB90-4 | |
MWB90-O2 |
一個探頭殼體內(nèi)裝有兩個晶片的探頭我們稱之為雙晶探頭,,又稱分割式探頭,。由兩個縱波晶片組合成的雙晶探頭稱為縱波雙晶探頭,又稱雙晶直探頭,;由兩個橫波晶片組成的雙晶探頭稱為橫波雙晶探頭,,又稱雙晶斜探頭。
這兩種雙晶探頭中,,雙晶直探頭的應(yīng)用較為廣泛,。雙晶直探頭的兩個縱波晶片一個用于發(fā)射超聲,一個用于接收超聲,。發(fā)射壓電晶片大都采用發(fā)射性能好的鋯鈦酸鉛,,接收壓電晶片大都采用接收性能好的硫酸鋰。(見下圖)
區(qū)別于單晶探頭而言,,雙晶探頭的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度都更高,。雙晶探頭的兩個晶片之間有一片吸聲性強、絕緣性好的隔聲層,,它不僅用于克服發(fā)射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞,,而且能使脈沖變窄、分辨率提高,、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進入接收晶片,,有效減少雜波。
由于雙晶探頭的發(fā)射部分和接收部分都帶有延遲塊,,能使探傷盲區(qū)大幅減小,,故雙晶探頭對表面缺陷的探傷十分有利。
正確選擇雙晶探頭
1,、探頭頻率的選擇
超聲的發(fā)射頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測能力,。頻率高時,波長短,,聲束指向性好,,擴散角較小,能量集中,,因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力則比較強,、分辨力好、缺陷定位準確。但高頻率超聲在材料中衰減較大,,穿透能力較差,,反之亦然。由于雙晶探頭適用于較薄工件的探傷,,不需要較強的穿透力,。因此可以采用較高頻率的探頭。對于鍛件,,板材,,棒材等晶粒細小的工件,可以采用5MHz的雙晶探頭(若被檢工件表面較粗糙,,高頻超聲散射較大,,不易射入,則容易出現(xiàn)林狀回波),。對于晶粒粗大,,超聲散射嚴重的材料,如奧斯體不銹鋼和鑄造件等,,頻率高時,,也會出現(xiàn)晶界引起的林狀回波,致使無法探傷,,對于這一類材料,,建議選用1MHz—2.5MHz的低頻率雙晶探頭。
2,、晶片尺寸的選擇從以上介紹的雙晶探頭的工作原理來看,,雙晶探頭探傷主要取決于雙晶探頭的聲能集中區(qū),跟晶片的大小沒有直接的關(guān)系,。雙晶探頭的晶片大小,,只與工件探測面積的大小有關(guān),當(dāng)檢測面積大時,,為了提高探傷效率,,宜采用晶片尺寸較大的探頭。當(dāng)檢測面積較小,,或者檢測面帶有一定曲率的情況下,,為了減少耦合損失宜用晶片尺寸小的探頭。
3,、焦距的選擇雙晶探頭的兩個晶片都有一定的傾斜角度。發(fā)射聲束與接收聲束必然會產(chǎn)生相交,,形成棱形的區(qū)域,,此區(qū)域即為探傷區(qū)域。菱形區(qū)愈長,,焦距愈大,,探測深度愈深,,適合厚工件的探傷檢驗,菱形區(qū)愈短,,焦距愈小,,探測深度愈淺,適合薄工件的探傷,。處于棱形區(qū)的缺陷,,其反射信號強,同時對于同樣大小的缺陷,,位于棱形區(qū)中心時,,反射信號。因此在實際探傷過程中,,要根據(jù)被檢工件的厚度選取適當(dāng)?shù)慕咕?。焦距越小,則對薄工件的探傷越有利,。一般來說,,選擇雙晶探頭的焦距小于被檢工件厚度5—10mm左右。雙晶探頭的探傷靈敏度先隨缺陷的深度增加而增高,,到達最大值后又隨深度增加而下降田,,這種探傷靈敏度的變化是雙晶探頭的特點。
雙晶直探頭板材檢測
1,、探頭的選擇
板厚≤60mm厚的鋼板可選用雙晶直探頭,,探傷的目的就是掃查出缺陷在整個厚度范圍內(nèi)的位置以及在板面上的分布,根據(jù)缺陷大小,,依據(jù)標準判定其合格與否,。由于鋼板缺陷的富集區(qū)一般在鋼板中心部位,,其次是板厚的1/4和3/4處,所以探頭的選擇和靈敏度的調(diào)整,必須考慮鋼板中心部位應(yīng)有較高的檢出能力,,且其他部位不漏檢。例如檢測20mm規(guī)格鋼板,,缺陷在10mm處易出現(xiàn),,選擇焦距F10探頭,以20mm大平底調(diào)整靈敏度,,既能保證10mm位置處較高的檢測靈敏度,,又能保證3和20mm位置有基本相同的靈敏度;同樣對于10mm鋼板,選擇焦距F5探頭,,以10mm大平底調(diào)整靈敏度,,保證了5mm位置處較高的檢測能力,又能保證3和10mm位置的靈敏度基本相同,所以,,為保證鋼板檢測質(zhì)量,,理想的雙晶探頭焦距應(yīng)等于鋼板厚度的一半。
2,、掃查方式
NB/T47013-2015規(guī)定的掃查方式見下圖
1)鋼板邊緣或坡口預(yù)定線兩側(cè)(50,、75、100)100%掃查,; 2)中心部分間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm的格子線掃查,。
3)雙晶直探頭掃查時,探頭的移動方向應(yīng)與探頭隔聲層相垂直,。
3,、缺陷性質(zhì)估計
分層:缺陷波形陡直,底波明顯下降或消失,;
折疊:不一定有缺陷波,,但底波明顯下降,次數(shù)減少甚至消失,,始波加寬,;
白點:波形密集尖銳活躍,底波明顯下降,,次數(shù)減少,,重復(fù)性差,移動探頭,,回波此起彼伏,。
系列 | 型號 | 頻率 (MHz) | 焦距 (mm) | 單晶片尺寸 (mm) | 外觀尺寸 | 帶寬 | 接口類型 | 接口方向 |
SEB | SEB 1 | 1 | 20 | Φ21半圓 | 類型15 | 40 | 雙聯(lián) Lemo 00 | 側(cè)裝 |
SEB 1-EN | 1 | 20 | ||||||
SEB 2 | 2 | 15 | 7x18 | |||||
SEB 2-EN | 2 | 15 | ||||||
SEB 2-0° | 2 | 30 | ||||||
SEB 2-EN-0° | 2 | 30 | ||||||
SEB 4 | 4 | 12 | 6x20 | |||||
SEB 4-EN | 4 | 12 | ||||||
SEB 4-0° | 4 | 25 | ||||||
SEB 4-EN-0° | 4 | 25 | ||||||
MSEB | MSEB 2 | 2 | 8 | Φ11半圓 | 類型16 | 40 | ||
MSEB 2-EN | 2 | 8 | ||||||
MSEB 4 | 4 | 10 | 3.5x10 | |||||
MSEB 4-EN | 4 | 10 | ||||||
MSEB 4-EN-0° | 4 | 18 | ||||||
MSEB 4-0° | 4 | 18 | ||||||
MSEB 5 | 5 | 10 | Φ9半圓 | |||||
SEB KF | SEB 2 KF 5 | 2 | 6 | Φ8半圓 | 類型17 | 30-60 | Microdot X2 | |
SEB 4 KF 8 | 4 | 6 | ||||||
SEB 4 KF 8-EN | 4 | 6 | ||||||
SEB 5 KF 3 | 5 | 3 | ||||||
SEB 10 KF 3 | 10 | 3 | Φ5半圓 | 類型18 | ||||
SEB 10 KF 3-EN |
特性
獨立的聲波發(fā)射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場分辨率
使用耐磨的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個金屬環(huán)保護以防磨損
在焦點內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量
加上特殊的延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測量
應(yīng)用
近表面的小缺陷探測和評估
焦點內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測
腐蝕,、銹蝕剩余壁厚的測量(包括高溫情況下測量)
粘結(jié)檢測
螺釘,,螺栓,銷釘
覆層和堆焊層
軸,,桿,,方坯芯檢測
粗晶材料
火車車輪
啟航檢測科技(上海)有限公司是一家專業(yè)從事無損檢測設(shè)備代理的公司,主營超聲波檢測設(shè)備及探頭,、超聲波相控陣,、超聲TOFD探傷儀、超聲波相控陣探頭以及數(shù)字成像平板等*設(shè)備,,品牌有奧林巴斯NDT,、美國磁通、美國sherwen,、汕超,、新美達,、美國GE等多家產(chǎn)品。長期以來,,公司堅持走科技創(chuàng)新之路,不斷拓展產(chǎn)品線及產(chǎn)品技術(shù),,加大應(yīng)用技術(shù)人員投入,。
公司提供的無損檢測儀器設(shè)備包括工業(yè)X光機、工業(yè)CT,、CR,、DR、工業(yè)洗片機,、超聲波探傷儀,、超聲波相控陣、超聲波測厚儀,、超聲波探頭,、渦流探頭、渦流陣列探傷儀,、管材的無損檢測解決方案,、渦流陣列探傷儀、超聲導(dǎo)波,、超聲TOFD探傷儀,、渦流陣列、磁粉探傷機,、著色滲透劑,、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡,、大型復(fù)合材料超聲波自動化檢測系統(tǒng),、大型超聲波板材檢測系統(tǒng)、大型超聲波管材檢測系統(tǒng),、大型壓力容器超聲波檢測系統(tǒng),、汽車點焊超聲波成像分析儀和其它實驗室儀器。
超聲波探傷儀,、相控陣探傷儀,、磁粉探傷儀、膠片,、探傷劑,、耦合劑、試塊,、洗片槽,、膠片機,、黑光燈、紫外線燈,、相控陣探頭,、單晶直探頭、雙晶直探頭,、單晶斜探頭,、雙晶斜探頭、水浸探頭,、保護膜探頭,、表面波探頭、絕緣子超聲波探頭,、爬坡探頭,、TOFD探頭、楔塊探頭,、楔塊,、導(dǎo)波探頭、磁性探頭,、單晶連接線,、雙晶連接線、反差增強劑,、密度計,、觀片燈、洗片夾,、拉環(huán)磁鋼,、鉛字、射線機,、射線燈,、個人劑量報警儀、輻射儀,、環(huán)境輻射儀,、黑油磁懸液、黑水磁懸液,、紅油磁懸液,、紅水磁懸液、紅磁膏,、黑磁膏,、紅磁粉、黑磁粉,、噴壺,、提升力試塊,、梨形測定管、直型測定管,、消泡劑,、防銹劑、分散劑,、磁場強度計,、白光照度計、紫外照度計,、暗室紅燈、三色燈,、顯影粉,、定影粉、顯影液,、定影液,、暗袋、增感屏,、防護背心,、鉛衣、像質(zhì)計,、無損檢測配件,、
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