（1）篩分法,。優(yōu)點：簡單、直觀,、設(shè)備造價低,，常用于大于40um的樣品,。缺點：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

（2）顯微鏡（圖像）法,。優(yōu)點：簡單,、直觀，可進行形貌分析,，適合分布窄（zui大和zui小粒徑的比值小于10：1）的樣品,。缺點：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,，無法分析小于1um的樣品,。

（3）沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。優(yōu)點：操作漸變,，儀器可以連續(xù)運行,，價格低，準確性和重復性較好,，測試范圍較廣,。缺點：測試時間較長，操作比較繁瑣,。

（4）電阻法,。優(yōu)點：操作漸變可測顆粒數(shù)，等效概念明確,，速度快,，準確性好。缺點：不適合測量小于0.1um的顆粒樣品,，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩,。

（5）激光法。優(yōu)點：操作簡便,，測試速度快，測試范圍廣,，重復性和準確性好,，可進行在線測量和干法測量。缺點：結(jié)果受分布模型影響較大,，儀器造價較高,，分辨力低。

（6）電子顯微鏡法,。優(yōu)點：適合測試超新顆粒甚至納米顆粒,，分辨力高，可進行形貌和結(jié)構(gòu)分析,，缺點：樣品少,，代表性差,，測量易受人為因素影響，儀器價格昂貴,。

（7）光阻法,。優(yōu)點：測試便捷快速，可測液體或氣體中顆粒數(shù),，分辨力高,。缺點：不適用粒徑小于1umde樣品，進行系統(tǒng)比較講究,，僅適合對塵埃,、污染物或已稀釋好的藥物進行測量，對一般粉體用的不多,。

（8）透氣法,。優(yōu)點：儀器價格低。不用對樣品進行分散,，可測測性材料粉體,。缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布,；不能測小于5um細粉,。

（9）X射線小角散射法。用于納米級顆粒的粒度測量,。

（10）光子相關(guān)譜法（動態(tài)光散射法）,。用于納米級顆粒的粒度測量。