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當前位置:北京東方信捷科技有限公司>>新能源材料研發(fā)>>光焱量子效率測量系統(tǒng)>> SG-O光炎量子效率分析儀光傳感器晶圓測試儀
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號SG-O
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地北京市
更新時間:2024-10-10 13:32:00瀏覽次數(shù):1493次
聯(lián)系我時,,請告知來自 化工儀器網(wǎng)光焱量子科技室內(nèi)光源模擬系統(tǒng) / 老化測試
應用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
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提供您在CIS/ALS/光傳感器晶圓級測試中所需的一切,。
SG-O光炎量子效率分析儀光傳感器晶圓測試儀是一款CIS/ALS/Light-Sensor晶圓測試儀,,它結(jié)合了高度均勻的光源和半自動晶圓探測器,。高度均勻光源可以提供從400nm到1700nm的連續(xù)白光光譜,,以及在許多不同波長下具有一定FWHM的單色光輸出,。探測器可以處理大,。200mm晶圓尺寸和尺寸大于1cmx1cm的單芯片。SG-O集成了超低噪音熱卡盤,,可提供 -60°C至180°C的溫度范圍,,具有快速的升溫速度和穩(wěn)定性。SG-O提供您在CIS/ALS/光傳感器設(shè)計驗證或工藝良率檢查中所需的一切,。
SG-O光炎量子效率分析儀光傳感器晶圓測試儀特點:
●高度均勻的光源
從 UV 到 SWIR 的寬光譜范圍
超過50mmx50mm區(qū)域的高度均勻性超過98%
超穩(wěn)定光強度,,可維持不穩(wěn)定性<0.2%長達10小時以上
高光強動態(tài)范圍,高達140dB
●可編程自動探測器
200mm~10mm晶圓或芯片處理能力
用于準確可靠的DC / CV,、RF測量
穩(wěn)定的功能顯微鏡系統(tǒng)
整合硬件控制面板
自動晶圓裝載機
智能晶圓映射
●寬溫低噪音卡盤
模塊化卡盤
-80°C至180°C的寬溫度范圍
*CDA熱控制技術(shù),,高斜坡率和高T穩(wěn)定性
用于CIS/ALS/光傳感器晶圓測試的超低噪聲
應用:
CIS/ALS/光傳感器晶圓測試
CIS/ALS/光傳感器晶圓映射和良率檢查
ToF傳感器測試
激光雷達傳感器測試
InGaAs PD測試
SPAD傳感器測試
光傳感器模擬參數(shù)測試:
量子效率
光譜響應
系統(tǒng)增益
靈敏度
動態(tài)范圍
暗電流/噪聲
信噪比
飽和容量
線性誤差(LE)
DCNU(暗電流非均勻性)
PRNU(光響應非均勻性)
系統(tǒng)設(shè)計:
SG-O CIS / ALS / Light-Sensor測試儀(晶圓級)系統(tǒng)圖。高度均勻的光源由PC-1控制,。光輸出由光纖引導到光學均化器以產(chǎn)生均勻的光束,。顯微鏡和均質(zhì)器由PC-1的自動平移臺控制,以切換位置和功能,。Prober系統(tǒng)為MPI TS2000,,由PC-2 控制??ūP臺的位置也由PC-2控制,。熱卡盤溫度可控制在-55℃至180℃,涵蓋了大部分 IC測試溫度范圍,。光強度由一個Si 光電探測器和一個InGaAs光電探測器通過皮安電流表檢測和校準,。
規(guī)格:
高度均勻的光源
光譜范圍:400nm至1700nm
色溫:3000K至5200K
均勻照明面積:42mmx25mm,工作距離>200mm
照度均勻度:優(yōu)于98%
短期光不穩(wěn)定性:≤1%超過1小時
長期光不穩(wěn)定性:≤1%超過10小時
DUT與后一個光學組件之間的工作距離:≥200mm工作距離
單色光生成:
10nm FWHM 中心波長:420nm,450nm,490nm,510nm,550nm,570nm,620nm,670nm,680nm,710nm,780nm,870nm
25nm FWHM 中心波長:1010nm,1250nm,1450nm
45±5nm FWHM 中心波長:815nm
50nm FWHM 的中心波長:1600nm
60±5nm FWHM 中心波長:650nm
70±5nm FWHM 的中心波長:485nm,555nm
100±5nm FWHM 的中心波長:1600nm
帶外透光率≤0.01%
帶通區(qū)峰值傳輸≥80%
中心波長容差:(a)≤±2nm,;(b)~(g)≤±5nm
FWHM容差:(a)≤±2nm,;(b)~(g)≤±5nm
可變衰減器:PC控制的3-decade分辨率,至少1000步
半自動晶圓探針
晶圓尺寸能力:200mm,、150mm,、100mm晶圓和尺寸大于1cmx1cm的單芯片
晶圓處理:單晶圓,,手動進料型
半自動化:一步手動對準教和自動模步進
XYZ 平臺
卡盤 XY 載物臺行程:210mmx300mm
卡盤 XY 平臺分辨率:優(yōu)于0.5um
夾頭 XY 平臺精度:優(yōu)于2.0um
卡盤 XY 平臺速度:慢:10微米/秒,快:50毫米/秒
Chuck Z 載物臺行程:50mm
Chuck Z 平臺分辨率:0.2um
卡盤 Z 平臺精度:±2.0um
Theta平臺
Theta載物臺行程:±5度運動范圍
Theta分辨率:優(yōu)于0.01度
Theta精度:0.1度
卡盤
卡盤平整度≤10um
卡盤熱操作:-60°C至200°C
25°C時的卡盤泄漏:25°C時在10V偏壓下每個電壓≤20fA
卡盤剩余電容≤95fF
探針卡
探針卡尺寸:4.5英寸至8英寸長
探針卡座與壓板之間的間隙:≥7.5mm
微型腔室
EMI屏蔽:在 1kHz 至 1MHz 范圍內(nèi)≥30dB
系統(tǒng)交流噪聲:≤ 5mVp -p
微型定位器
顯微鏡
隔振臺
光譜輻照度計
光譜范圍:400nm至1600nm
波長分辨率:400nm到1000nm 增加步長<1nm,;1000nm到1600nm 增加步長<3.5nm
校準:NIST可追溯校準證書
主要表現(xiàn)
SG-O系統(tǒng)的操作軟件,。對于高度均勻光源控制軟件,SG-O提供光源系統(tǒng)控制和光強測量,。提供了各個光學組件的 Labview功能調(diào)色板,、驅(qū)動程序/DLL文件。該軟件控制所述平移臺以促進照射大是在零件的設(shè)備,。集成鏈接的整合包括發(fā)送/接收命令,,例如芯片步進、芯片對齊/探測等,。
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