中儀科信粒度分布測試儀故障維修小竅門,，優(yōu)點是簡單直觀

下面內容應涵蓋激光粒度儀數(shù)據漂移的大部分問題(不包括儀器的功能故障問題),，希望對所有激光粒度儀用戶有所幫助,。

下面我們將介紹一些會導致激光粒度儀的常見問題：
1,、鏡頭和測試窗口被污染
2、激光光路偏移
3,、進樣系統(tǒng)的循環(huán)、分散效能波動
4,、光電探測器及其放大電路參數(shù)偏移
5,、測量參數(shù)及測量條件變動

這種假設在大多數(shù)情況下是不能接受的，例如:樣品在流動生產過程中,，單獨監(jiān)測顆粒大小是不準確的,，有些粒子可能是球形，一些可能是矩形,，球形顆粒比長方形顆粒流動性更好,，互信息函數(shù)法能準確地測出電機轉速，同時,，由于互信息函數(shù)自身的優(yōu)點-一能實際地反映出數(shù)據之間的相互關聯(lián)其中以一級品,，二級品居多

粒度儀常見故障預防措施：
透鏡光學儀器的污染是一種常見的故障,。粉檢測設備,激光粒度分析儀經常面臨著塵土飛揚的環(huán)境中,和test窗口透鏡是一個光學器件,可以直接聯(lián)系粉末樣品,。聚焦透鏡或準直透鏡等光學透鏡受到環(huán)境中的浮塵或霉變的污染,，會在純測量光束中產生雜散光。這些雜散光將混合到樣品的散射光干擾測試;測量窗口鏡片上的污染物會直接產生強烈的散射光,。

3.2實驗光路的設計及光學器件的選擇3.2.1實驗光路圖3-1Mie散射實驗光路圖如圖3-1所示,，進行Mie散射實驗，zui主要的問題就是如何將顆粒的散射光強進行更加的探測 中粉指60~160目的粉末,，細粉160目到300目,，300目以上屬于超細粉，但根據不同原料的易粉碎程度,，超細分類有所不同,，對于一些化合物如碳酸鈣來講300目只能算是粗粉，超細又粒徑均勻的塑料粉末克服了其他粉末顆粒缺點

激光水平儀故障排除解決方案—激光水平儀可以看作是復雜的工具,，特別是如果您不熟悉使用該設備或其他型號的經驗,。在該單位停止工作中的故障時，它確實會引起不必要的焦慮和不必要的延遲,。在將其發(fā)送給進行充分修理之前,，您可以執(zhí)行一些陷阱來解釋問題。

半導體晶硅片的切割刃料環(huán)節(jié),，粒度大小對碳化硅的影響碳化硅微粉是zui主要用于多線切割機上的磨料之一,，微粉的粒型及粒度是硅片表片的光潔程度和切割能力的關鍵，碳化硅微粉的粒型及粒度,，砂漿的黏度,，砂漿的流量如水泥顆粒磨細些

中儀科信粒度分布測試儀故障維修小竅門

的計算可采用Lentz的連分式算法：（2-2-15）而Lentz證明有如下關系：（2-2-16）其中，上式用表示則可寫成如下遞推關系：（2-2-17）注意到時,，因此可由上式遞推出符合精度要求的 激光粒度分析儀的功能越來越強大,，用戶的可選擇性也越來越多，如何選擇一款性價比較高的儀器成為用戶關心的問題,，本文討論影響激光粒度分析儀性價比的幾點關鍵因素,，儀器測試范圍及分辨率同價位下，客戶往往都會選擇儀器測試范圍更寬的廠家 采用紊流分散技術,，利用激波的剪切效果,，使顆粒樣品達到充分的分散，理由分散系統(tǒng)關鍵部位采用耐磨陶瓷,，不僅提高了使用壽命,，而且還保證測試結果更加準確和穩(wěn)定，理由控制面板的無級變速按鈕,，不受檔數(shù)的限制,，能夠自由調節(jié)喂料速度