Wavetek Willtek無(wú)線電綜測(cè)儀黑屏維修檢測(cè)在查看任何無(wú)線電綜測(cè)儀故障并測(cè)試任何類型的晶體管電路時(shí),，先是尋找明顯的或主要的故障,。這是修理任何設(shè)備的關(guān)鍵階段之一。幸運(yùn)的是,，晶體管無(wú)線電綜測(cè)儀等電子設(shè)備的大多數(shù)故障都相對(duì)容易發(fā)現(xiàn)——許多故障非常明顯,，有些甚至可能不需要任何測(cè)試設(shè)備。它們通常由運(yùn)動(dòng)和物理?yè)p壞引起,，因此通常很容易發(fā)現(xiàn)這些故障和問(wèn)題,。因此，任何故障查找的都是尋找主要問(wèn)題,。

前一種類型的阻焊層具有比金屬焊盤小的開(kāi)口,，而后一種類型的阻焊層具有比金屬焊盤更大的開(kāi)口。我們將需要對(duì)齊它們并打出準(zhǔn)確的定位孔,，至關(guān)重要的是,，它們對(duì)齊，因?yàn)橐坏┖喜⒘藘?nèi)層,，我們將無(wú)法校正內(nèi)層,，對(duì)準(zhǔn)孔的無(wú)線電綜合測(cè)試儀層對(duì)齊|手推車9.在一起在這一點(diǎn)上，我們有外層材料(稱為預(yù)浸料)和原始基板,。

Wavetek Willtek無(wú)線電綜測(cè)儀黑屏維修檢測(cè)

1,、查電路先是確保它有電源供應(yīng)。這可以使用設(shè)置為電壓范圍的萬(wàn)用表輕松完成,。使用無(wú)線電綜測(cè)儀在電源進(jìn)入電路板的位置測(cè)量電壓,。如果萬(wàn)用表指示沒(méi)有電源電壓，則可以有多種可能性進(jìn)行：
2,、如果無(wú)線電綜測(cè)儀由電池供電,，則電池可能沒(méi)電了。有時(shí)這可能很明顯,，因?yàn)殡姵乜赡苷谛孤?。如果是這種情況,，請(qǐng)取出電池并清潔可能泄漏到電池座上的任何殘留物，尤其是觸點(diǎn),。殘留物會(huì)導(dǎo)致觸點(diǎn)被腐蝕,，因此很好地清潔觸點(diǎn)。小心不要接觸殘留物,，因?yàn)樗赡芫哂懈g性
3,、如果電池狀況不是那么明顯，那么使用測(cè)試儀進(jìn)行簡(jiǎn)單的電壓測(cè)量可以突出顯示這是否是一個(gè)問(wèn)題,。打開(kāi)無(wú)線電綜測(cè)儀時(shí),，用測(cè)試表檢查電壓。如果電池不能提供所需的電流,，則當(dāng)無(wú)線電綜測(cè)儀打開(kāi)時(shí)電壓會(huì)下降,。
4、通斷開(kāi)關(guān)故障,。這可以通過(guò)斷開(kāi)任何電源來(lái)檢查 - 從電源中移除電源線以*隔離設(shè)備,。然后檢查開(kāi)關(guān)的連續(xù)性，檢查它的開(kāi)和關(guān)位置 - 為此使用萬(wàn)用表上的歐姆范圍,。還請(qǐng)記住,，開(kāi)關(guān)可能會(huì)在輸入電源的兩側(cè)進(jìn)行切換，即火線和零線,，并且開(kāi)關(guān)的任一側(cè)都可能不起作用,。
5、如果存在保險(xiǎn)絲,，則值得檢查,。取下保險(xiǎn)絲并用萬(wàn)用表檢查導(dǎo)通性。其電阻應(yīng)小于歐姆,。
6,、被腐蝕的連接器。一個(gè)常見(jiàn)的問(wèn)題是連接器會(huì)隨著時(shí)間的推移而腐蝕,，連接會(huì)變得很差,，特別是一段時(shí)間沒(méi)有使用的設(shè)備。為了克服這個(gè)問(wèn)題,，它可以幫助拔下然后重新配對(duì)連接器,。
7、檢查任何會(huì)阻止電源到達(dá)電路板的斷線,。隨著時(shí)間的推移和設(shè)備的移動(dòng)，引線可能會(huì)斷裂,。一個(gè)特定的區(qū)域可能是電池引線 - 這些引線特別容易因需要移動(dòng)而損壞,，如果以粗暴的方式更換電池,，這可能導(dǎo)致引線斷裂。檢查視覺(jué)標(biāo)志,，并使用萬(wàn)用表歐姆范圍,。

例如,，TTL的輸出阻抗小于50Ω，甚至小于20Ω,，如果對(duì)它進(jìn)行如此大的匹配,。，電源噪聲區(qū)域檢查,，電源區(qū)域的不穩(wěn)定性將通過(guò)為每個(gè)芯片提供不穩(wěn)定的電源并產(chǎn)生干擾,，從而導(dǎo)致整個(gè)設(shè)計(jì)失敗或使芯片遠(yuǎn)離穩(wěn)定性，,，重要的一條規(guī)則是應(yīng)確認(rèn)和檢查無(wú)線電綜合測(cè)試儀上芯片的布局及其追蹤趨勢(shì),。考慮:無(wú)線電綜合測(cè)試儀設(shè)計(jì)無(wú)線電綜合測(cè)試儀設(shè)計(jì)是EMC努力中的重要紐帶,。

Wavetek Willtek無(wú)線電綜測(cè)儀黑屏維修檢測(cè) 這使其成為具有廣泛應(yīng)用的理想薄膜電阻器材料,。這樣，即使在全反射的情況下,。疊加在信號(hào)線上的反射電壓也僅為原始波動(dòng)的10,，通常是一個(gè)可接受的值，因此,，在高速無(wú)線電綜合測(cè)試儀設(shè)計(jì)過(guò)程中在路由調(diào)整規(guī)則中,，差分信號(hào)線的相對(duì)延遲可以設(shè)置為0.05Tr，能夠滿足信號(hào)完整性的要求,。并且大連線和讀取速度達(dá)到每秒132MByte,。oiwhefgwerger