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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌DAOHAN/島韓
廠商性質(zhì)其他
所 在 地常州市
更新時(shí)間:2024-03-23 17:06:14瀏覽次數(shù):1823次
聯(lián)系我時(shí),,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 白光測量機(jī) |
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工作方式 | 垂直式 | 工作原理 | 自動型 |
價(jià)格區(qū)間 | 100萬-200萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源 |
海克斯康HEXAGON測量投影儀維修報(bào)警故障代碼凌肯自動化維修三坐標(biāo)測量儀,,主要品牌如下,,德國蔡司ZEISS、意大利DEA,、思瑞SEREIN,、海克斯康HEXAGON,、愛德華AEH,、臺碩檢測TASO、西卡德CIDEA,、愛測易AICEYI,、科曼尼KOMANIE、日本三豐mitutoyo,、Wenzel溫澤,、Nikon尼康等。
第十九條開展現(xiàn)場測試或采樣時(shí),,應(yīng)根據(jù)任務(wù)要求制定監(jiān)測方案或采樣計(jì)劃,,明確監(jiān)測點(diǎn)位,監(jiān)測項(xiàng)目,,監(jiān)測方法,,監(jiān)測頻次等內(nèi)容,可使用地理信息定位,,照相或錄音錄像等輔助手段,,保證現(xiàn)場測試或采樣過程客觀,真實(shí)和可追溯?,F(xiàn)場測試和采樣應(yīng)至少有2名監(jiān)測人員在場,,十條應(yīng)根據(jù)相關(guān)監(jiān)測標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)規(guī)范的要求。
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1.光學(xué)系統(tǒng),投影成像故障,。圖像有黑點(diǎn),、成像模糊、成像有暗區(qū)等,,這就要求清洗和維護(hù)物鏡,、投影屏、表玻璃,、會聚透鏡,、反射鏡等。調(diào)整燈絲的燈絲或更換,。如果電壓過低,,應(yīng)安裝電壓調(diào)節(jié)器。
2.機(jī)械系統(tǒng),,升降傳動故障,。常見的問題有:上下運(yùn)動異常響聲,有時(shí)不能升降,,變速時(shí)間隙較大。 下面就是詳細(xì)的比較國產(chǎn)和進(jìn)口三坐標(biāo)測量儀的一些參數(shù)和檢測指標(biāo),,進(jìn)口三坐標(biāo)測量儀:島津EDX-LE為日本,,測試倉為半自動,國產(chǎn)三坐標(biāo)測量儀:天瑞1800B天瑞2800天瑞EDX-EDX-3000D為中國國內(nèi)生產(chǎn),。
3.機(jī)械系統(tǒng),,工作臺故障。常見的故障有非光滑摩擦傳動、平穩(wěn)桿怠速,、工作臺運(yùn)動噪聲,、拋光桿驅(qū)動彈跳、工作臺運(yùn)動卡住現(xiàn)象,。當(dāng)故障排除時(shí),,找出故障的原因,然后適當(dāng)?shù)挠盟?。彈簧可調(diào)整為擰緊螺釘,、更換軸承、更換拋光桿,、新油,、添加潤滑油、調(diào)整或更換拋光桿托架等方式解決問題,。 則說明抑制器部分存在一定問題,,大多數(shù)是操作不當(dāng)引起的,例如:淋洗液或再生液流路堵塞,,系統(tǒng)中無溶液流動造成背景電導(dǎo)偏高或使用的電抑制器其電流設(shè)置的太小等,,膜被污染后交換容易下降亦會使背景電導(dǎo)升高,而失效的抑制器在使用時(shí)會出現(xiàn)背景電導(dǎo)持續(xù)升高的現(xiàn)象,。,。
4.精密故障。包括X.Y.Z軸的精度不準(zhǔn)確,,兩坐標(biāo)測量精度差,,角度值誤差大,不同平面測量誤差大,。處理此類故障,,應(yīng)注意糾正和調(diào)整。如果想讓圖像測量三坐標(biāo)測量儀出現(xiàn)故障少,,平時(shí)就要注意對三坐標(biāo)測量儀進(jìn)行維護(hù),。設(shè)備的存儲環(huán)境是重要的。應(yīng)保持在干燥,、干燥,、溫度適中的房間內(nèi),避免光學(xué)零件發(fā)霉,、金屬零件生銹,、灰塵和雜物脫落。光學(xué)表面應(yīng)保持清潔,,不要用手觸摸,,經(jīng)常清洗,。
篩選合格則不拆分,篩選不合格,??墒褂梅菣C(jī)械方法分離(如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化學(xué)溶液溶解提取),但卻的確發(fā)生過,,二手安捷倫火花三坐標(biāo)測量儀[堵"的原因基本就是上面這些了,,希望對你今后的使用有所幫助,PrevICP-OES,。ICP-MS,,AAS的對比分析火花直讀三坐標(biāo)測量儀的7種故障排除方法個(gè)ICP-OES。
表明原子吸收光譜法仍是微量元素分析的主要方法之一,,我們相信,,其一定能夠在微量元素形態(tài)分析中發(fā)揮重要的作用,,能跟你愉快的的。至少證明是你的目標(biāo)客戶,,至于你怎么把他給聊死的,,看下面的案例思路,你會找到答案,,這個(gè)案例客戶從開發(fā)到只用了三個(gè)月,,原因很簡單:客戶找對了。
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