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常用的粒度測量方法以及優(yōu)缺點是什么？
閱讀：2196 發(fā)布時間：2021-8-2
常用的粒度測量方法以及優(yōu)缺點是什么,？
（1）篩分法
（2）沉降法（重力沉降法,、離心沉降法）
（3）電阻法（庫爾特顆粒計數器）
（4）顯微鏡（圖像）法
（5）電鏡法
（6）超聲波法
（7）透氣法
（8）激光衍射法
各種方法的優(yōu)缺點
篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀,、設備造價低,、常用于大于40μm的樣品。缺點：不能用于40μm以細的樣品,；結果受人為因素和篩孔變形影響較大,。
顯微鏡法：優(yōu)點：簡單、直觀,、可進行形貌分析,。 缺點：速度慢、代表性差,，無法測超細顆粒,。
沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行,，價格低,，準確性和重復性較好，測試范圍較大,。 缺點：測試時間較長,。
電阻法：優(yōu)點：操作簡便,，可測顆粒總數,，等效概念明確,，速度快，準確性好,。 缺點：測試范圍較小,，小孔容易被顆粒堵塞，介質應具備嚴格的導電特性,。
電鏡法：優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒,、分辨率高。 缺點：樣品少,、代表性差,、儀器價格昂貴。
超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量,。 缺點：分辨率較低,。
透氣法：優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散,，可測磁性材料粉體,。 缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布,。
激光法：優(yōu)點：操作簡便,，測試速度快，測試范圍大,，重復性和準確性好,，可進行在線測量和干法測量。 缺點：結果受分布模型影響較大,。