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常用的粒度測量方法以及優(yōu)缺點是什么,？
閱讀：2265 發(fā)布時間：2021-8-2
常用的粒度測量方法以及優(yōu)缺點是什么,？
（1）篩分法
（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）
（3）電阻法（庫爾特顆粒計數(shù)器）
（4）顯微鏡（圖像）法
（5）電鏡法
（6）超聲波法
（7）透氣法
（8）激光衍射法
各種方法的優(yōu)缺點
篩分法：優(yōu)點：簡單,、直觀,、設備造價低、常用于大于40μm的樣品,。缺點：不能用于40μm以細的樣品,；結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法：優(yōu)點：簡單,、直觀,、可進行形貌分析。 缺點：速度慢,、代表性差,，無法測超細顆粒。
沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點：操作簡便,，儀器可以連續(xù)運行,，價格低，準確性和重復性較好,，測試范圍較大,。 缺點：測試時間較長。
電阻法：優(yōu)點：操作簡便,，可測顆?？倲?shù)，等效概念明確,，速度快,，準確性好。 缺點：測試范圍較小,，小孔容易被顆粒堵塞,，介質應具備嚴格的導電特性。
電鏡法：優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒,、分辨率高,。 缺點：樣品少、代表性差,、儀器價格昂貴,。
超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量。 缺點：分辨率較低,。
透氣法：優(yōu)點：儀器價格低,，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。 缺點：只能得到平均粒度值,，不能測粒度分布,。
激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快,，測試范圍大，重復性和準確性好,，可進行在線測量和干法測量,。 缺點：結果受分布模型影響較大。