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微結(jié)構(gòu)硅在光電檢測(cè)方面的競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手 III-V

閱讀:1813      發(fā)布時(shí)間:2023-9-28
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【重點(diǎn)摘要】

  1. 創(chuàng)新設(shè)計(jì):采用微米和納米結(jié)構(gòu)的新型光檢測(cè)器設(shè)計(jì),與其他材料如GaAs具有相當(dāng)?shù)男阅堋?/p>

  2. 提升吸收率:在硅中引入周期性微孔結(jié)構(gòu)顯著提高近紅外光譜的光吸收,,超越普通硅甚至GaAs,。

  3. 適用于薄硅層:在與標(biāo)準(zhǔn)CMOS電子元件兼容的超薄硅層中觀察到光吸收的明顯提升,。

  4. 現(xiàn)代制造兼容:該方法與現(xiàn)代CMOS制程兼容,可與傳統(tǒng)電路整合,,有望革新運(yùn)算和影像技術(shù),。

  5. 光子學(xué)進(jìn)步:有望提升基于硅的光檢測(cè)器在新興光子學(xué)應(yīng)用中的性能,確保在薄硅層中達(dá)到高吸收率,,適用于高速系統(tǒng),。


加州大學(xué)戴維斯分校(UC Davis)的研究人員正走在放大薄硅膜光吸收能力的開創(chuàng)性前線。這包括開發(fā)具有微納米結(jié)構(gòu)表面的硅基光檢測(cè)器,,以有效地捕捉光線,,實(shí)現(xiàn)與砷化鎵(GaAs)等先進(jìn)半導(dǎo)體相媲美的性能水平。

硅一直是半導(dǎo)體領(lǐng)域的主宰,。然而,,與GaAs等半導(dǎo)體相比,其在近紅外光譜(NIR)范圍的光吸收較弱,,限制了其應(yīng)用潛力,。雖然GaAs及其相關(guān)合金在光子學(xué)方面表現(xiàn)優(yōu)異,但它們與電子制造中使用的傳統(tǒng)CMOS工藝存在兼容性問題,,導(dǎo)致生產(chǎn)成本升高,。

突破的關(guān)鍵在于在硅中巧妙放置微納米孔洞,使入射光線幾乎90度彎曲并沿著硅平面橫向傳播,。這種創(chuàng)新的捕捉機(jī)制顯著增強(qiáng)了在NIR波段的光吸收,。


所設(shè)計(jì)的光電探測(cè)器在絕緣基板頂部配備了微米厚的圓柱形硅(SI)板。至關(guān)重要的是,,硅的整體結(jié)構(gòu)具有周期性的圓形孔洞,,充當(dāng)高效的光子捕捉位置。這的結(jié)構(gòu)將入射光線復(fù)位向,,促使其在硅平面上橫向傳播,。這種橫向傳播增加了光的傳播長(zhǎng)度,有效地減慢了光速,,從而增強(qiáng)了光與物質(zhì)的相互作用和隨后的吸收,。

此外,研究人員進(jìn)行了全面的光學(xué)模擬和理論分析,,以了解這些光子捕捉結(jié)構(gòu)的影響,。進(jìn)行了大量實(shí)驗(yàn),比較了具有這些結(jié)構(gòu)和不具有這些結(jié)構(gòu)的光檢測(cè)器,,確認(rèn)在NIR光譜中寬帶上的吸收效率顯著增加,,保持在68%以上,峰值令人印象深刻地達(dá)到 86%,。


觀察到的光子捕捉光檢測(cè)器的吸收系數(shù)超過普通硅數(shù)倍,,甚至超過了NIR波段的GaAs,。值得注意的是,模擬涉及與CMOS電子組件兼容的30和100納米硅薄膜,,同樣展示了類似增強(qiáng)的性能,突顯了所提出設(shè)計(jì)的靈活性,。

研究人員認(rèn)為,,這項(xiàng)研究的發(fā)現(xiàn)提供了一種提高基于硅的光檢測(cè)器在新興光子學(xué)應(yīng)用中性能的有前途的策略。即使在超薄硅層中,,實(shí)現(xiàn)高吸收率對(duì)于保持高速系統(tǒng)中的低寄生電容至關(guān)重要,。此外,這種提議的方法與現(xiàn)代CMOS制程兼容,,有望革新將光電子器件集成到傳統(tǒng)電路中的方式,。最終,這種創(chuàng)新可能為具有成本效益的超高速電腦網(wǎng)路打開道路,,并在成像技術(shù)方面取得重大進(jìn)展,。

該研究已發(fā)表在Advanced Photonics Nexus


光焱科技針對(duì)光電感測(cè)器,提供先進(jìn),、客制化的測(cè)量解決方案,。我們產(chǎn)品資訊如下:


SPD2200 新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備

  • 全光譜光譜響應(yīng)(SR, Spectral Responsivity)

  • 全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)

  • 全光譜光子探測(cè)率(PDP, Photon Detection Probability)

  • 暗計(jì)數(shù)DCR (Dark Count Rate)

  • 崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)

  • Jitter

  • Afterpulsing probability

  • Diffusion tail

  • SNR


APD-QE 先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析

特色

  • 使用「照度模式」量測(cè)

  • 定光子數(shù)控制功能

  • 針對(duì)微米級(jí)光電檢測(cè)器量測(cè)設(shè)計(jì)

  • 搭配多種探針臺(tái)及定制化載臺(tái)

  • 一鍵式全光譜校正與智能量測(cè)

應(yīng)用

  • 量測(cè)LiDAR光電效率

  • 量測(cè)光電二極管轉(zhuǎn)換效率

  • 量測(cè)光學(xué)傳感器轉(zhuǎn)換效率

  • X射線檢測(cè)器表征量測(cè)

  • 量測(cè)硅光子學(xué)效率


PD-QE 新型光電傳感器特性分析儀

特色

  • 可量測(cè)EQE、IV曲線,、NEP與D*,可分析噪聲頻率

  • 偏置電壓(20V~200V),分辨率(1E-14安培)

  • Noise-Current frequency最高可達(dá)20kHz

  • 波長(zhǎng)300-1100nm (可擴(kuò)展1800nm)

  • 定光子輸出模式(CP)

  • 可集成多種探針臺(tái)及SMU,、定制載臺(tái)

應(yīng)用

  • Organic Photodiode

  • Perovskite Photodiode

  • Quantum Dots Photodiode

  • New photosensitive material sensor




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